静电放电电磁脉冲辐照效应研究及模型分析

"静电放电电磁脉冲辐照效应研究 (2011年)，由刘进、陈永光、谭志良、陈翔等人在《北京理工大学学报》上发表，探讨了静电放电电磁脉冲（ESD EMP）对电子电路的影响机制，并通过实验验证了相关数学模型的有效性。 静电放电电磁脉冲（ESD EMP）是由于静电积累后突然释放所产生的一种短暂而强烈的电磁能量，这种能量可以对电子设备造成损害或干扰。本研究基于传输线理论，这是一种用于分析导体系统中电磁波传播的物理模型。通过该理论，作者深入理解了ESD EMP如何影响电路，并构建了相应的数学模型，以模拟和预测ESD EMP的辐射效应。 为了验证模型的准确性，研究团队参考了国际电工委员会（IEC）的61000-4-2标准进行了一系列的ESD EMP辐射效应实验。这一标准定义了静电放电抗扰度测试的方法。实验中，他们测量了耦合板周围的电场强度，并比较了在水平耦合板（HCP）和垂直耦合板（VCP）上放电时，对电路产生的感应干扰电压差异。结果显示，当电路板平行于HCP放置时，即使在相似的电场强度下，HCP放电时的感应干扰电压通常高于VCP放电的情况。 实验结果与模型分析相吻合，这证明了所建立的模型可以有效地用于研究ESD EMP与电子系统的能量耦合问题。然而，研究也指出，目前的IEC61000-4-2标准存在不足，因为它未充分考虑到水平耦合金属板可能改变ESD EMP辐射场的入射方向，从而对测试结果产生显著影响。因此，对于被测设备（EUT）的摆放位置，需要有更明确的规范。 关键词涉及静电电磁脉冲、传输线理论、辐照效应、建模以及能量耦合，表明这篇论文涵盖了ESD防护和电子设备敏感性评估的关键方面。该研究对理解和改善电子设备的ESD防护设计，以及修订和完善相关标准具有重要意义。"