高效线性相位调制/直检测光微波光子链路的侧带处理方法

本文探讨了一种针对高线性度相位调制/直接检测微波光子学链路（Microwave photonics link, MPL）的光学侧带处理方法。在传统的相位调制与直接检测（Phase modulation and direct detection, PM/DD）架构中，存在的主要问题是第三阶互调失真（Third-order intermodulation distortion, IMD3），这会降低信号质量并限制系统的性能。作者提出通过光学侧带处理技术来解决这一问题。 光学侧带处理的核心思想是将原始的相位调制信号转换为强度调制信号，这使得系统可以直接进行检测而不必担心非线性效应引起的失真。这种方法的关键在于对零阶和二阶光学侧带施加适当的相位偏移。通过这种方式，可以有效地抑制第三阶互调产物，因为这些偏移有助于抵消或减少由非线性效应产生的干扰信号。通过理论分析，研究者展示了如何通过精确控制这些相位偏置，实现对IMD3的有效管理，从而提升整个微波光子链路的线性度和信号传输质量。 此外，这项工作是在北京邮电大学信息光电子与光通信国家重点实验室的支持下完成的，得到了中国国家基础研究计划（973项目）的部分资助。研究成果发表于2014年10月的《光电子学》杂志，强调了该方法对于提升微波光子学通信系统的稳定性和效率的重要性，特别是在那些对信号纯净度有极高要求的应用领域，如无线通信、雷达和无线传感器网络等。 总结来说，本文的贡献在于提供了一种创新的解决方案，通过光学侧带处理技术，优化了相位调制/直接检测微波光子学链路，有效抑制了第三阶互调失真，从而实现了更高的系统线性度和信号传输性能。这对于推动现代光电子学和微波通信技术的发展具有重要意义。