众核DSP高效仿真调试结构：分组共享与JTAG优化

本文主要探讨了在快速发展的集成电路技术和微体系结构背景下，多核数字信号处理器（DSP）的仿真调试面临的挑战。传统的单核DSP已无法满足市场对于高处理能力和效率的需求，因此，多核DSP的设计和优化成为了业界的重点。然而，随着核心数量的增加，原有的JTAG（Joint Test Action Group）标准协议的串行调试结构在众核芯片中表现出效率低下和用户界面卡顿的问题。 为了克服这些问题，作者提出了一个高效基于分组共享策略的众核DSP仿真调试结构。这种新结构采用了独特的总-分JTAG调试通路，通过在芯片顶层设置多个菊花链连接的JTAG控制器，每个控制器负责一组单核的仿真调试任务，而不是将所有单核串联在一条JTAG扫描链路上。这样的设计实现了并行处理，极大地减少了JTAG链路的长度，从而显著提高了调试效率。 具体在X-DSP的应用中，与传统的单核全并入JTAG链路的设计相比，X-DSP的JTAG串行链路长度减少了94%。此外，通过软硬件联合优化技术，对存储体的大批量读操作的时间需求降低了56%，这意味着调试过程中的性能得到了显著提升。在实际的FPGA板上进行的流水线调试和资源访问测试中，用户界面在进行这些操作时没有明显的卡顿现象，证实了新结构的有效性和实用性。 本文的研究成果对于提高多核DSP的仿真调试性能具有重要意义，不仅有助于解决现有技术瓶颈，还为众核处理器的设计和调试提供了新的思路和方法，对于推动微处理器设计领域的发展具有积极影响。关键词包括：众核DSP、仿真调试、软硬件联合优化。