TRC-LFSR结构二维测试向量压缩设计

"该资源是一篇2009年的自然科学论文，主要研究了一种基于扭环计数器(TRC)和线性反馈移位寄存器(LFSR)的二维测试向量压缩设计方法，旨在减少集成电路的测试数据量，提高测试效率。" 在集成电路的测试过程中，测试向量是用于验证芯片功能正确性的关键数据集。测试向量的大小直接影响到测试成本和测试时间。这篇论文提出的是一种结合TRC和LFSR的二维测试向量压缩方案，它通过TRC实现测试集的垂直压缩，利用LFSR的重播种技术进行水平压缩，有效地减少了测试向量的长度和宽度。 TRC（Twisted Ring Counter），扭环计数器，是一种特殊的计数器，其计数状态空间具有循环性质，可以用来生成特定的测试序列。论文中提到，基于TRC的测试集嵌入技术可以对测试向量集进行垂直压缩，这可能是通过在测试向量的每一列中嵌入TRC的输出，以减少测试向量的行数。 LFSR（Linear Feedback Shift Register），线性反馈移位寄存器，是一种广泛应用于序列生成、伪随机数生成等领域的电路。LFSR通过反馈机制可以生成周期性序列，论文中利用LFSR的重播种技术实现测试向量集的水平压缩，可能是通过改变LFSR的初始状态（种子），产生不同的测试向量，从而减少测试向量的列数。 论文还提出了一种优化的LFSR种子选择算法，将LFSR种子解码为TRC种子，进而生成测试向量。这种方法旨在减少所需LFSR的数量，降低存储需求。通过这种方式，对于含有smax个确定位的测试向量，所需的LFSR长度从smax+20减少到了smax+2，显著提高了编码效率。 实际应用中，论文采用了ISCAS89基准电路进行实验，结果显示采用该设计的测试电路相比于现有方法，最多可以减少69%的存储位数，同时测试控制逻辑简单，具有良好的可重用性。 总结来说，这篇论文提供了一种创新的测试向量压缩技术，结合了TRC和LFSR的优点，降低了测试数据量，提高了测试效率，对集成电路的测试领域具有重要的理论和实践意义。