新型光栅条纹投影三维轮廓测量系统：简化校准，提高精度

"一种新的基于条纹投影的三维轮廓测量系统模型" 本文介绍了一种创新的光栅条纹投影三维轮廓测量系统模型，该模型在设计上突破了传统测量系统的限制，无需满足光心连线平行于参考面、成像系统光轴垂直于参考面以及两光轴相交于参考面等严格条件。这一改进显著简化了系统的校准过程，对于现场测量具有很大的便利性。 在新模型中，关键在于正弦光栅条纹在参考平面上的投影需要保持平行。这样的设计使得高度相位映射的关系不再依赖于像点的坐标，从而避免了对每个像点单独采样的需求，减少了系统标定所需的时间。实验结果证实，这种新的方法使得投影装置和成像系统的定位校准更为简便，提升了标定速度，并且保持了高测量精度，能够有效地处理复杂表面形状的物体测量任务。 关键词涉及测量技术、三维轮廓测量、条纹投影技术、高度相位映射以及标定过程。文章的贡献在于优化了光栅投影三维测量系统的实用性和效率，对于工业制造、精密工程以及质量控制等领域有着重要的应用价值。新模型的提出不仅降低了系统的复杂性，也增强了其适应性和准确性，为三维测量技术的进步提供了新的思路和方法。