MTK智能机射频测试详述与规范

本文档是关于MTK智能机的详细测试指导，主要针对Ragentek MTK平台的设备。文件由BU6工程部于2013年12月24日编制，旨在规范化CFT（Communication Frequency Test，通信频率测试）作业流程，确保产品的射频性能达到标准并提升生产效率。 CFT是手机射频性能的关键测试环节，分为BT（Baseband Test，基带校准）和FT（Final Test，最终测试）两个阶段。BT校准主要包括自动频率校准(AFC)、自动增益控制校准(AGC，MTK平台称作Pathloss)、自动功率控制校准(APC)以及电池电量指示校准(ADC)。通过这些校准后，会记录一个校准通过标记。FT则着重于更全面的射频指标测试，如峰值功率(PeakPower)、功率时间模板(BurstMask)、相位误差(峰相位误差和均方根相位误差)、频率误差(FreqError)、灵敏度(BER)、接收信号强度(RXLevel)、开关谱(SwitchSpectrum)和调制谱(ModulationSpectrum)。其中，某些指标如峰值功率、频率误差和灵敏度是必须严格测试的。 硬件和软件的需求也在此列出，例如测试所需的电脑需配备双核2.0GHz以上的处理器和足够的内存。这份文档还包含了版本历史和工作职责的明确划分，每个部门都负责相应的评审和审核，以保证质量控制和规范性。 在整个测试过程中，关键目标是确保MTK智能机的射频性能稳定可靠，同时优化生产流程，提高产品质量。这份详细指导对于MTK智能机的生产和质量监控具有重要的参考价值。通过遵循这一指南，工程师们可以确保手机在出厂前满足严格的射频性能标准。