基于DFT的SoC芯片射频测试与SCAN技术应用

本文主要探讨的是苹果数据线MFi 337S3959的DFT测试，特别是针对一款基于低中频无线收发架构的SoC芯片。SoC芯片的架构包括蓝牙基带与射频模块、FM基带与射频模块、微处理器模块和高速并行接口模块，以及存储器、电源管理和时钟模块。其中，蓝牙和FM基带处理不同的信号传输任务，蓝牙负责蓝牙信号的基带处理和发送接收，FM基带则负责接收调频电台信号并将其解调成音频。 DFT测试在芯片设计中扮演关键角色，特别是对于像SoC这样的高度集成芯片。本文关注的是SCAN（扫描）测试，这是一种针对数字基带部分逻辑的测试方法。由于集成度提高带来的测试盲点，通过EDA工具产生特殊的测试向量，对特定管脚进行输入输出逻辑值的比较，确保数字逻辑功能的正确性。 重点在于针对SoC芯片射频部分的测试，由于涉及到射频信号完整性、电磁兼容性和复杂的基带算法，这部分测试具有挑战性。本文的目标是在现有软硬件资源限制下，探索如何有效地进行SoC芯片的DFT测试，包括优化SCAN测试策略，提升测试效率，同时保证产品质量和生产流程中的自动化测试设备（ATE）的有效应用。 在整个研发过程中，SoC芯片的测试不仅影响新产品的上市速度，也直接影响着售后服务的成本。因此，对于测试方法和技术的选择，如bench测试和ATE测试，对于整个产品的成功至关重要。本文的工作对于无线通信终端设备制造商来说，提供了有价值的参考，特别是在面对射频测试难题时，可能提出创新的解决方案和技术路径。