基于DFT的SoC芯片射频测试与SCAN技术应用
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更新于2024-08-09
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本文主要探讨的是苹果数据线MFi 337S3959的DFT测试,特别是针对一款基于低中频无线收发架构的SoC芯片。SoC芯片的架构包括蓝牙基带与射频模块、FM基带与射频模块、微处理器模块和高速并行接口模块,以及存储器、电源管理和时钟模块。其中,蓝牙和FM基带处理不同的信号传输任务,蓝牙负责蓝牙信号的基带处理和发送接收,FM基带则负责接收调频电台信号并将其解调成音频。
DFT测试在芯片设计中扮演关键角色,特别是对于像SoC这样的高度集成芯片。本文关注的是SCAN(扫描)测试,这是一种针对数字基带部分逻辑的测试方法。由于集成度提高带来的测试盲点,通过EDA工具产生特殊的测试向量,对特定管脚进行输入输出逻辑值的比较,确保数字逻辑功能的正确性。
重点在于针对SoC芯片射频部分的测试,由于涉及到射频信号完整性、电磁兼容性和复杂的基带算法,这部分测试具有挑战性。本文的目标是在现有软硬件资源限制下,探索如何有效地进行SoC芯片的DFT测试,包括优化SCAN测试策略,提升测试效率,同时保证产品质量和生产流程中的自动化测试设备(ATE)的有效应用。
在整个研发过程中,SoC芯片的测试不仅影响新产品的上市速度,也直接影响着售后服务的成本。因此,对于测试方法和技术的选择,如bench测试和ATE测试,对于整个产品的成功至关重要。本文的工作对于无线通信终端设备制造商来说,提供了有价值的参考,特别是在面对射频测试难题时,可能提出创新的解决方案和技术路径。
2023-06-08 上传
2023-09-15 上传
2023-06-28 上传
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2023-07-30 上传
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MichaelTu
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