微带线法精确测量微波介质基板复介电常数

本文主要探讨了一种创新的测量微波介质基板复介电常数的方法。这种方法基于微带线原理，利用微带线辐射损耗作为关键参数来推算介电常数。首先，研究人员运用微带线相关的理论模型，结合电磁场仿真软件，对微带线的辐射损耗进行精确计算。通过编写计算机程序，将测量到的数据输入到模型中，从而得到微波介质基板的复介电常数。 在实际测量过程中，为了减小同轴接头引入的测量误差，该方法采用两条微带线，确保除长度外其他参数保持一致。这种设计使得测量结果更加稳定，提高了精度。作者们对多种常见的微波介质基板进行了实际测量，结果显示，与标称值相比，介电常数实部的误差控制在1%以内，损耗角正切的误差约为10%，显示出该方法具有较高的测量准确性和实用性。 这项研究的重要意义在于，它提供了一种简便且精确的微波介质基板复介电常数测量手段，这对于微波电路设计、高频通信以及信号处理等领域具有重要的工程应用价值。通过使用宽频带测量，该方法能够适应不同频率范围内的微波材料特性分析，对于提高微波器件性能和优化电路设计具有显著的推动作用。 关键词：微带线、印刷电路板、微波测量、介电常数测量、损耗角正切、辐射损耗、有效介电常数、宽频带测量。因此，这项研究成果对于现代电子技术领域，特别是微波电路设计者和研究人员来说，是一篇极具参考价值的研究论文。