RationalDMIS SP25扫描教程：接触式连续扫描测头应用

"Rationaldmis sp25扫描文档.pdf" 这篇文档详细介绍了RationalDMIS SP25扫描功能，这是针对UCC控制器版基于RationalDMIS 6.8版本编写的。RationalDMIS是一款强大的计量软件，而SP25扫描测头是其重要组成部分，具备高速、高精度和紧凑的特性，尤其适用于箱体件、模具/检具的表面扫描和自由曲面的检测。 在第一章中，文档强调了SP25的特点，包括与PH10测头的兼容性，能够进行角度旋转，以及支持单点测量和连续扫描两种模式。用户无需进行软硬件切换，可以直接在RationalDMIS软件中操作，进行基本几何元素的测量，并实时观察扫描图形，同时进行误差分析。 第二章探讨了控制点扫描方式。文档说明了扫描图标的布局、可扫描元素的类型和控制点数量，以及图标点亮的条件。通过一个圆弧扫描的实例，展示了如何设置和执行扫描操作，同时提供了程序设置中的扫描参数调整。 第三章深入讲解了扫描菜单和程序扫描的各种方法。这部分详细阐述了不同类型的扫描，如扫描直线、平面、圆、圆弧、球、圆柱、圆锥、键槽以及曲线。每个元素的扫描都有适应性和控制路径两种方式，还有更复杂的DEFINEGUIDEPATHSCANII和曲线节点的右键定义扫描等高级功能。此外，还介绍了利用CAD数据创建测量点和扫描路径的方法。 第四章介绍了滤波算法的应用，这对于处理扫描数据和提高测量结果的准确性至关重要。这部分可能涵盖了各种滤波策略，旨在减少噪声，平滑数据，从而更好地匹配实际工件的形状。 这份文档为RationalDMIS SP25的用户提供了全面的操作指南，帮助他们理解和掌握如何高效、准确地使用扫描功能进行复杂几何形状的检测和测量。无论是初学者还是经验丰富的计量工程师，都能从中受益，提升测量效率和精度。