线阵扫描AOI系统的关键技术——虚拟阻抗并联逆变器控制

"本文主要研究基于线阵扫描的自动光学检测(AOI)系统的关键技术，特别是在并联逆变器控制方面进行了深入研究，旨在解决线扫描AOI系统中的技术挑战，推动相关技术的发展，对国内产业做出贡献。作者陈镇龙在电子科技大学攻读博士学位期间，由叶玉堂教授指导，探讨了光学工程领域的这一重要课题。论文涵盖了线阵扫描AOI系统的理论基础、设计方法以及控制策略，特别是基于虚拟阻抗的并联逆变器控制技术，以提高系统的性能和稳定性。此外，论文还涉及到了独创性和使用授权的声明，表明作者对研究成果的所有权和论文使用的相关规定。" 本文的核心内容是线阵扫描自动光学检测系统的关键技术研究，尤其是针对并联逆变器的控制策略。线阵扫描AOI系统在工业检测中扮演着重要角色，能高效地检测纺织品等物体的表面缺陷。并联逆变器控制是该系统中的一个重要环节，它关系到系统的效率和精度。通过引入虚拟阻抗的概念，研究者可能在逆变器控制上实现了更精细的电流控制，从而优化了能量转换和系统响应。 虚拟阻抗技术是一种模拟实际阻抗特性的控制方法，它可以调整并联逆变器中各个模块的行为，以达到负载均衡和整体性能提升。在AOI系统中，这种控制策略能够确保在高速扫描过程中，逆变器能够稳定供电，减少波动，提高检测的准确性和可靠性。此外，研究还可能涉及了如何处理实时数据，分析图像信息，并快速准确地识别出缺陷。 论文的作者通过理论分析、实验验证以及可能的仿真研究，深入剖析了基于虚拟阻抗的并联逆变器控制技术在AOI系统中的应用。这不仅有助于提高现有系统的性能，也为未来相关技术的进一步发展奠定了基础。同时，作者对于独创性声明和论文使用授权的详细说明，表明了学术诚信的重要性，以及尊重知识产权的意识。 这篇博士学位论文详细探讨了线阵扫描AOI系统的关键技术，特别是并联逆变器控制中的虚拟阻抗方法，为相关领域的技术进步提供了理论依据和实践参考。通过对这一技术的深入研究，不仅能够提升自动光学检测的效率，还有助于推动中国在这一领域的自主研发能力和产业竞争力。