蓝牙SoC测试：电源模块与本振泄露镜像抑制分析

"这篇论文主要探讨了在无线通信领域中，特别是在蓝牙SoC芯片测试方面的一些关键技术，特别是针对苹果数据线mfi337s3959的测试情况。论文详细介绍了ATE（Automatic Test Equipment）在SoC测试中的应用，包括电源模块的测试和本振泄露及镜像抑制测试。 在电源模块测试中，使用了Verigy 93000 SoC测试机，该设备提供了三种工作模式：工程模式、学习模式和量产模式。在工程模式下，测试机可以动态地读写芯片寄存器，而在学习模式下则生成静态的pattern，用于量产时快速配置芯片。论文列举了一个实例，展示了芯片在发射状态下各电源管脚的电流值。 关于本振泄露和镜像抑制测试，论文解释了这些概念的基本原理，并给出了一个信号分析模型。本振泄露是指在数字正交调制过程中，本振信号泄露到射频输出的情况，而镜像抑制则是指防止不需要的边带信号干扰。通过计算调制后的射频信号输出功率，可以评估这两个指标。 论文还提到了通信与信息工程的专业背景，指出SoC芯片测试在无线通信终端设备研发中的重要性。SoC芯片的测试分为特征描述阶段和量产阶段，分别对应bench测试和ATE测试。射频部分的测试具有挑战性，因为它涉及到射频信号的完整性和电磁兼容性。 最后，论文作者承诺论文中的研究成果是原创的，并授权给重庆邮电大学使用和传播，同时概述了无线通信市场的潜力和SoC测试的复杂性，强调了这一领域的研究价值。" 这篇论文详细阐述了ATE在SoC芯片测试中的作用，尤其是在蓝牙SoC芯片的电源管理和射频性能评估方面的应用，对于理解和优化无线通信设备的测试流程具有重要的参考价值。