动态优化的NANDFlash坏块管理算法及其在嵌入式系统中的应用

随着科技的进步，NANDFlash已成为二十一世纪主导的大容量存储介质，在移动设备和嵌入式系统中发挥着核心作用。然而，NANDFlash在出厂时和使用过程中不可避免地会出现坏块，这对其管理和性能至关重要。传统的坏块管理策略，尤其是针对早期小容量NANDFlash的方法，已经无法满足现代大容量NANDFlash的需求。 本论文由西安电子科技大学硕士研究生林刚撰写，专注于NANDFlash坏块管理算法及其逻辑层驱动设计。作者首先对ST等主流NANDFlash芯片供应商的坏块管理方法进行了深入分析，提出了一个优化的动态坏块管理算法。这个算法在遇到擦除或编程失败的块时，能够实时动态地更新坏块信息，提高了管理效率。 针对嵌入式系统普遍采用的FAT文件系统管理和新一代NANDFlash支持的cache-program、multi-page-program操作，论文进一步设计并实现了基于动态坏块管理算法的逻辑层驱动。这个驱动在FPGA平台上得到了验证，已经在HT3001芯片上得到了实际应用，芯片已成功流片并投入量产。 通过论文的研究，动态坏块管理算法有效地解决了NANDFlash的坏块问题，优化了读写性能，为嵌入式系统和移动设备中NANDFlash的高效管理提供了强有力的技术支撑。该论文的成果对于提升NANDFlash的使用寿命、提高系统稳定性以及优化数据处理能力具有显著的参考价值，标志着在NANDFlash管理技术上的一个重要进步。