NanoSim-VCS在混合信号芯片验证中的应用

"这篇论文探讨了基于NanoSim-VCS的芯片级混合信号验证技术，针对混合信号系统芯片设计中的验证瓶颈，如复杂全芯片系统验证和数字-模拟接口分析，提出了创新的验证策略。该方法结合了NanoSim的高精度模拟仿真与VCS的数字仿真优势，对包括Verilog和SPICE的数模混合系统进行验证，以实现精度和速度的平衡，缩短仿真时间，提高验证效率。通过SHU-MV06芯片的成功流片验证，证明了该方法的有效性和准确性。混合信号SoC设计需求的增长以及验证在设计周期中的占比增加，使得寻找高效验证方案成为关键。传统的门级和晶体管级验证方法存在局限性，可能导致设计缺陷在后期测试阶段才发现，从而增加成本和延误。NanoSim-VCS混合验证方法旨在克服这些问题，提供更可靠的全芯片级验证解决方案。" 在这篇研究论文中，作者朱鹤程指出，在当前的电子设计领域，混合信号系统芯片（SoC）的需求日益增长，而其设计验证成为了设计周期中的主要挑战。传统的验证方法，如门级验证，往往只能在模块级别对模拟电路进行仿真，并使用Verilog行为级模型描述系统级行为，这可能导致仿真质量和实际性能之间的差距，进而引发设计缺陷。为了解决这个问题，论文提出了基于NanoSim-VCS的混合信号验证方法。 NanoSim是一款高性能的模拟电路仿真器，而VCS则是一种广泛应用的数字逻辑仿真工具。通过结合这两者的优点，论文中提出的方法可以在保持一定仿真精度的前提下，显著加快仿真速度，从而提升验证效率。这一创新方法在SHU-MV06芯片的设计验证中得到了应用，芯片的一次流片成功验证了该方法的正确性和实用性。 论文强调，随着SoC设计复杂度的增加，混合信号验证的重要性愈发突出。为了应对设计验证占据整个设计周期大部分时间的问题，寻求新的验证策略至关重要。NanoSim-VCS的混合验证方法提供了这样一种解决方案，它能够在保证仿真精度的同时，减少潜在的设计错误，避免了因后期发现问题而需要进行的芯片重新设计，从而降低了时间和成本。 这篇论文深入探讨了混合信号SoC验证的挑战，并提出了一种有效且实用的验证方法，为电子设计行业提供了有价值的参考，有助于优化芯片设计流程，提高设计成功率。