利用高层次综合工具优化MBIST控制器设计：C语言实现与FPGA验证

"基于高层次综合工具的BIST控制器设计着重解决传统MBIST控制器设计中的问题。MBIST（Memory Built-In Self-Test）技术在存储器测试中扮演关键角色，但传统方法如寄存器传输级描述语言设计流程繁琐，专用EDA工具限制了算法灵活性，且电路结构不易调整。本文提出采用高层次综合工具，如C语言描述MARCH算法，这种工具能将高级语言转化为硬件级别的RTL代码，简化设计过程。 作者选择SRAM作为目标，通过C语言实现MARCH算法，具体优化策略包括端口分配以提高效率，流水线优化提升处理速度，以及数组分割以控制电路规模。这些优化旨在提升BIST控制器的性能和灵活性，使得设计更为模块化和易于维护。 使用FPGA平台作为验证平台，作者评估了高层次综合工具生成的RTL代码的电路功能可靠性和规模控制能力。这种方法相较于传统的MBIST设计，显著减少了算法实现的复杂性和时间成本，提高了设计的灵活性和效率。 文章的引言部分阐述了当前嵌入式存储器测试面临的挑战以及高层次综合工具的优势，强调了使用这种工具设计BIST控制器可以降低设计难度，缩短开发周期。背景介绍部分详细介绍了MARCH算法在存储器测试中的应用，以及BIST控制器和数据比较器的作用，特别强调了BIST控制器作为算法实现硬件载体的重要性。 高层次综合技术开发流程涉及算法的高层次综合编译、优化插入、RTL协同仿真等步骤，确保最终电路的正确性和性能。如果设计需求未满足，可通过修改优化策略进行迭代改进。 本文的研究为存储器MBIST控制器设计提供了一种更高效、灵活的方法，借助高层次综合工具，设计师能够更轻松地将复杂的算法转化为高效的硬件实现，这对于现代集成电路的高密度和复杂性具有重要意义。"