简化故障检测：无扇出电路的故障等效与支配

在《无扇出电路举例 - 国科大 - 模式识别 - 2018期末试题》中，主要讨论了VLSI（Very Large Scale Integration，大规模集成电路）设计中的一个重要概念和技术，即故障检测和简化。故障表是数字电路测试的基础，用于列出输入数据、正常工作状态下的输出以及故障状态下的输出，这对于大规模电路的诊断至关重要。对于复杂的电路，如图1.19所示的无扇出电路，故障等效和支配的概念被用来简化故障表。 故障等效指的是，如果两个故障可以通过相同的测试图形来检测，那么这两个故障就被认为等效。例如，在图1.19的电路中，故障A/0、B/0和H/0的测试集相同，表明它们可以互换检测，从而简化了故障表。同样，故障C/1、D/1和F/1也是等效的，因为它们的测试集也可以合并。这一特性被推广到一般情况，即任意一个N输入的与门（或门）的所有输入和输出的s-a-0（s-a-1）故障之间存在等效关系。 VLSI测试方法学和可测性设计是针对大规模集成电路设计的关键要素。书中详细讲解了电路测试、分析的基础理论，以及如何通过组合电路和时序电路的测试生成方法来确定和处理故障。专用可测性设计、扫描和边界扫描技术、IDDQ测试、随机和伪随机测试原理等都被涵盖其中。测试生成电路结构和与M序列相关的测试方法也被讨论，这些都是确保电路可靠性和性能的重要手段。 内建自测试（Built-in Self-Test，BIST）原理在VLSI设计中扮演着重要角色，通过对内部电路的自我诊断来发现潜在问题。此外，数据压缩技术和专用电路（如Memory和System-on-Chip，SoC）的可测性设计方法也在书中有所涉及，旨在优化测试效率并减少测试时间。 《VLSI测试方法学和可测性设计》这本书不仅适合从事集成电路设计、制造、测试和应用的专业人员作为参考，也是高校高年级学生和研究生学习VLSI系统设计与测试的重要教材。版权方面，未经许可复制或抄袭书中的内容将受到法律追究。同时，书后提供了联系方式，以便读者在遇到质量问题或版权问题时进行咨询和反馈。这本书为读者深入理解大规模集成电路的测试流程和技术提供了坚实的基础。