TD-LTE终端设备射频测试：杂散响应与发射机性能

"TD-LTE YDT 行标 射频 测试方法" 本文档详细阐述了TD-LTE数字蜂窝移动通信网终端设备的射频性能测试方法，重点关注杂散响应这一关键指标。杂散响应测试旨在评估在连续波(CW)干扰信号存在下，接收机在特定信道频率上接收期望信号的能力。这种测试对于确保设备在面临非期望频率的干扰时仍能保持良好的通信性能至关重要。如果设备缺乏杂散响应能力，其覆盖范围可能会受到显著影响。 6.7.2部分提到，杂散响应测试适用于第一阶段的TD-LTE数字蜂窝移动通信网终端设备。测试的目的是验证设备在不同信道带宽下，如1.4 MHz、3 MHz到20 MHz，能否在指定条件下达到至少95%的3GPP TS36.521-1规定的参考测量信道的大吞吐量。表174列出了在不同信道带宽下接收机参数的功率要求，如发射机功率需在REFSENS基础上增加特定值。 测试要求遵循3GPP的相关标准，如3GPP TS36.521-1中的A.2.2、A.2.3和A.3.2章节。在小上行配置下，发射机的发送功率应设定为PCMAX_L -4dB。此外，文档还提到了单侧动态OCNG OP.1 TDD的参考测量，可在3GPP TS36.521-1的附录A.5.2.1中查阅。 测试方法的其他部分涉及发射机的各种特性，如发射功率、输出功率动态调整、发射信号质量和频谱外辐射等。发射机的杂散辐射测试也进行了详细描述，包括测试目的、适用性、最小一致性要求和测试描述与要求。接收机特性部分则涵盖了分集特性、参考灵敏度电平和最大输入电平等，确保设备在接收端也有良好的性能表现。 这份标准详细规定了TD-LTE终端设备在射频性能方面的一系列测试要求，旨在保证设备在复杂无线环境中具备稳定的通信性能，同时为制造商提供了明确的开发和验证指南。