综合评述 |REVIEW
激光与光电子学进展
2009.12
张海波
1,2
楼祺洪
1,2
周军
1,2
董景星
1,2
魏运荣
1,2
1 中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800
2 中国科学院上海光学精密机械研究所上海市全固态激光器与应用技术重点实验市,上海 201800
蓸 蔀
ZhangHaibo
1,2
LouQihong
1,2
ZhouJun
1,2
DongJingxing
1,2
WeiYunrong
1,2
1 ShanghaiInstituteofOpticsandFineMechanics,ChineseAcademyofSciences,Shanghai 201800, China
2 ShanghaiKeyLaboratoryofAllSolid-StateLaserandAppliedTechniques,ShanghaiInstituteofOpticsandFine
Mechanics,ChineseAcademyofSciences,Shanghai 201800, China
晌
尚
上
上
上
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ArF 准分子激光器线宽压缩技术
ArFExcimerlaserLineNarrowingTechnique
1
引言
193nmArF 准分子激光器广泛应用于 90nm 以
下节点的半导体集成电路制造
。利用
ArF 浸没光刻技
术节点可达到 45nm。为此,对 ArF 光源的脉冲功率
和光谱带宽有着严格的要求
,高吞吐量要求高脉冲功
率,而高数值孔径要求稳定的较窄的光谱带宽,光刻
图像高的清晰度和对比度要求光源有较好的波长稳
定性。
光刻用的 ArF 准分子激光器光源已经有比较成
熟的商品
,如美国的
Cymer 和 Coherent 公司
,日
本的
Gigaphoton 公司
。基于
ArF 准分子激光器
,
ASML,
Exitech,CanonUSA 等公司已经开发出商用的光刻
系统。我国开展准分子激光器方面研究主要是针对准
分子激光器的应用上,如激光眼科医疗与集成电路光
刻等,但线宽压缩与波长稳定方面的研究开展的较
少
[1]
,而 且 技术水平也有一定的差距。
光刻是利用光将掩模板的特征图样投影给晶圆
。
随着半导体工业的发展,更短的波长应用于更小
特征尺寸的成像
。根据
Raleigh 公式
,最小特征
尺
寸(MinimumFeatureSize,MFS)可以表示为
[2]
MSF=
k
1
l
/NA,其中 k
1
为光刻工艺的过程系数
,降低
k
1
可以
减小 MSF,为了保证半导体大规模生产通常设 k
1
为
0.4;NA为光刻机投影透镜的数值孔径,利用浸没式光
刻可显著提高 NA
[3]
,ASML 公司开发的基于水( NA=
1.35) 的浸没式光刻可实现 40nm 光刻;
l
为曝光波
长,较 小 的 MSF 需要更短的曝光波长。通常用的汞灯
波长限制在 g 线 436nm 和 i 线 365nm,此光源所能
达到的分辨率仅有 180nm。 248nmKrF 与 193nm
ArF 准分子激光器可显著提高光刻的精度
,
193nm
ArF 光源可实现 32nm 技术节点的光刻。
为
了进一步
摘 要
ArF 准分子激光器是实现 45nm 技术节点光刻的主流光源
。综述了准分子激光器的研究现状,介绍
了主
振荡功率放大( MOPA)与种子注入锁定系统( ILS)双腔结构以及主要波长分离元件,着重介绍了深紫外波
长区 193nm 的光谱线宽压缩技术。
关键词
激光器;准分子激光器
;
线宽压缩技术;主 振荡功率放大
Abstract
ArFexcimerlaseristhemainlightsourcefor45nmtechnologynodelithography.Therecentresearch
ofexcimerlaserissummarized,andthemasteroscillatorandpoweramplifier(MOPA)andinjection
lockingsystem (ILS)dual-chamberstructureandwavelengthseparationopticsareintroduced.The
linenarrowingtechniquefor193nmwavelengthisreviewed.
Keywords laser;excimerlaser;linenarrowingtechnique;masteroscillatorandpoweramplifier
中图分类号
TN248 doi:10.3788/LOP20094612.0046