上海交通大学物理系光波导参数测量仪介绍

"导波光学实验上海产的仪器是由上海交通大学物理系的导波光电子器件实验室研制的，主要用于光波导参数的测量。这款设备能够进行一系列的实验，包括光波导薄膜厚度和折射率的测量、传输损耗的测量、用衰减全反射（ATR）方法测量金属膜的介电常数和厚度，以及渐变光波导折射率轮廓的测量。此外，还附带有光波导参数测量仪的使用说明书。这款仪器与国际上知名的Metricon和Sairontech公司的产品类似，提供了全面的光波导特性分析能力。" 在光波导技术领域，了解和精确测量其参数至关重要，因为这些参数直接影响着光波导器件的性能和效率。上海交通大学的这款仪器为研究者和工程师提供了一种本土化的解决方案，能够有效地进行以下关键参数的测量： 1. **光波导薄膜厚度和折射率**：薄膜的厚度和折射率是决定光波导性能的基础，通过精确测量这两个参数，可以优化光波导的设计，提高光的传输效率。 2. **光波导传输损耗**：传输损耗是指光在波导中传播时的能量损失，低损耗是高性能光波导的重要指标。通过测量传输损耗，可以识别并改进可能导致损耗的材料或结构问题。 3. **衰减全反射(ATR)方法**：这是一种测量金属膜介电常数和厚度的技术，对于理解光与金属表面的相互作用，特别是在光学涂层和传感器应用中，具有重要意义。 4. **渐变光波导折射率轮廓**：渐变折射率的光波导在光通信和光电子器件中广泛应用，测量其折射率分布有助于理解和优化器件的模式控制和信号传输。 5. **双折射测量**：双折射是某些材料的特性，可以影响光的传播路径，测量这一参数对于晶体材料和非线性光学应用特别重要。 这款由上海交通大学研制的光波导参数测量仪不仅提供了全面的测试功能，而且结合了国际先进经验，为中国乃至全球的光波导研究和产业发展提供了有力的工具。通过这样的设备，科研人员和工程师能够更好地理解和改进光波导器件的性能，推动光学科技的进步。