"在采样点之间内插-iso_iec_14496-15_2010"
本文主要讨论了数字信号处理中的一个重要概念——在采样点之间进行内插，这是提高信号分辨率和理解信号特性的一个关键步骤。在信号处理中，尤其是在雷达信号分析和电子情报（ELINT）领域，准确地恢复连续信号的原始信息至关重要。
首先，文中提到饱和程度的度量是评估数据质量的一个因素，特别是在涉及模数转换（ADC）时。饱和样点的数量表示信号达到或超过ADC满刻度的程度。少量的饱和样点通常不会对整体数据质量产生显著影响，但大量饱和可能会导致信息丢失和失真。
接着，文章提到了Amax和1dB压缩点的比较，这对于判断模拟系统是否存在饱和现象至关重要。Amax代表信号的最大幅度，它可以反映出信号在整个动态范围内的使用程度。1dB压缩点则是指信号增益开始下降1dB的点，这通常发生在接近饱和的地方。
第九节详细阐述了在采样点之间进行内插的过程，采用的是卡迪纳尔级数（Cardinal Series）的方法来提升采样速率。公式(2.11)给出了这种插值方法的数学表达，其中B表示信号的带宽，a/2B表示相邻采样点间的时间间隔。奈奎斯特速率（a=1）是理论上的最低采样速率，确保无损地捕获信号信息。实际应用中，a应介于0和1之间。
为了直观理解采样点对内插求和的贡献，文章指出，如果一个采样点的值接近ADC的满刻度，那么这个点对总和的贡献几乎等同于ADC的次要比特位。为了确保所有相关的采样点都被包含在内，需要计算满足特定条件（如公式2.12所示）的采样点数量。例如，对于8比特量化器，在两倍奈奎斯特速率下采样，每侧需要包括81个点以充分考虑信号的贡献。
此外，虽然部分内容提到了雷达信号分析和电子情报，但这些领域主要是内插技术的应用场景。雷达信号分析涉及对雷达发射和接收信号的详细研究，而ELINT（电子情报）则关注于解析和利用电磁频谱中的非通信信号，如雷达信号，来获取敌方的情报信息。
内插是信号处理中的关键技术，用于提高采样数据的精度和恢复连续信号的细节。在雷达信号分析和ELINT中，正确执行内插对于理解和解析信号参数至关重要。同时，文中提到的翻译工作表明，此类技术文献的交流有助于促进国际间的学术合作和技术进步。
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