IPD048N06L3G-VB:高性能N沟道TO252封装MOSFET

0 下载量 55 浏览量 更新于2024-08-03 收藏 598KB PDF 举报
"IPD048N06L3G-VB是一款N沟道MOSFET,采用TO252封装,具有低热阻特性,适用于电源管理、开关应用等场景。" IPD048N06L3G-VB是一款由VBsemi公司生产的N沟道金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET),其主要特点包括TrenchFET技术的功率MOSFET设计,这种设计能够提供更低的导通电阻和更高的效率。此外,该器件的封装设计注重低热阻,有助于在高功率运行时保持良好的散热性能。 在功能特性方面,IPD048N06L3G-VB具有以下关键参数: - 额定的漏源电压(VDS)为60V,这意味着它可以在60V的工作电压下安全操作。 - 在栅极电压VGS为10V时,其漏源导通电阻(RDS(on))仅为0.0050欧姆,而在VGS为4.5V时,RDS(on)为0.0120欧姆。低的RDS(on)值意味着在导通状态下,流过MOSFET的电流产生的压降较小,从而提高效率。 - 连续漏极电流(ID)在25°C时为97A,而在125°C时为56A,表明该MOSFET在高温环境下仍能保持较高的电流承载能力。 - 其他还包括门极-源极电压(VGS)的最大值为±20V,连续源极电流(IS)为100A,脉冲漏极电流(IDM)为290A,以及单脉冲雪崩电流(IAS)为45A,这些参数确保了MOSFET在不同工作条件下的稳定性和耐受性。 在安全运行方面,IPD048N06L3G-VB的最大功率耗散(PD)在25°C时为136W,在125°C时为45W,确保了在不同温度下的散热性能。同时,结温(TJ)和储存温度范围(Tstg)为-55至+175°C,保证了器件在宽温范围内的可靠性。 热性能是MOSFET的重要考量因素,IPD048N06L3G-VB的结壳热阻(RthJC)为1.1°C/W,而结到环境的热阻(RthJA)为50°C/W。这些数值表示当MOSFET发热时,每瓦特功率所产生的温升,对于优化热设计和确保设备长期稳定运行至关重要。 IPD048N06L3G-VB是一款适用于各种高功率、低损耗应用的N沟道MOSFET,如开关电源、电机驱动、电池管理系统以及需要高效能和良好散热的其他电子设备。其独特的TrenchFET技术和优秀的热特性使其成为工程师在设计中考虑的优选元器件。