VLSI测试方法：布尔差分法实例与可测性设计详解

在"测试图形的布尔差分法生成举例 - 国科大 - 模式识别 - 2018期末试题"中，主要讨论了布尔差分法在VLSI（Very Large Scale Integration，大规模集成电路）测试中的应用。VLSI是现代电子工业的核心，涉及集成大量的晶体管和互连线路，用于构建复杂的电子系统。在这个题目中，关键知识点包括： 1. **布尔差分法**：这是一种在数字电路设计中用于检测和隔离故障的有效技术。布尔差分（Boolean differencing）是指通过比较两个电路的开关函数（F(x)）来确定输入变量变化时输出的变化。公式（3.6）展示了如何计算布尔差分，即F(x1, x2, x3)关于x2和x3的差分。 2. **测试图形生成**：对于输入节点x2和x3，根据原始电路的开关函数和故障情况（s-a-0和s-a-1），生成了相应的测试图形。测试图形是根据故障条件定义的电路结构，它们能帮助检测特定故障是否发生。例如，x2的故障对应的测试图形分别是1 2 3 110x x x = 和 1 2 3 100x x x =，x3的故障测试图形分别为1 2 3 (001, 011,101)x x x = 和 1 2 3 (000, 010,100)x x x =。 3. **布尔差分的性质**：文中提到的三个性质表明布尔差分具有线性关系，如差分操作不改变函数的原值（di(F(x)) = F(x)），差分操作也不依赖于其他输入变量（dF(x1, x2, x3) = dF(x1, x2)），以及差分操作的扩展性（d^2F(x1, x2, x3) = dF(x1, x2, x3, x4)）。 4. **VLSI测试方法学和可测性设计**：这门课程深入探讨了VLSI设计中的测试策略，包括基本概念、理论、数字电路描述和模拟方法，以及组合电路和时序电路的测试生成技术。此外，还包括专用可测性设计（如扫描和边界扫描）、IDDQ测试（Intrinsic Digital Difference Quiescent Current Test）、随机和伪随机测试等高级测试技术。书中还涉及了内存和SoC（System-on-Chip）的可测性设计，这些都是确保VLSI产品质量和可靠性的重要组成部分。 5. **目标读者**：本书不仅适合VLSI设计、制造、测试和应用的专业人员，也适合高校高年级学生和研究生，作为深入学习VLSI测试理论和技术的教材。 通过这些内容，学习者能够理解如何运用布尔差分法来分析和诊断VLSI电路的故障，并掌握一套完整的VLSI测试方法学和可测性设计流程，这对于VLSI电路的高效生产和质量控制至关重要。同时，它也强调了知识产权保护的重要性，提醒读者尊重版权和合法使用学术资料。