STM32 F103 SRAM用Keil MDK 3.5 Jlink V7高效调试教程

需积分: 36 1 下载量 82 浏览量 更新于2024-09-30 收藏 355KB PDF 举报
本文主要介绍了如何在Keil MDK 3.5版本搭配JLink V7调试器对STM32系列微控制器(以STM32F103RBT6为例)的SRAM进行有效调试,以避免因频繁擦写FLASH而受限,同时保护硬件资源。以下步骤将帮助你成功实现这一目标: 1. 首先,确保你已经在项目目录中添加了Keil安装目录下的`RAM.ini`配置文件,这个文件通常在`STLIB_Blinky`子目录中,用于指定SRAM的起始地址和大小。 2. 打开项目文件`GPIO_OUT.uvproj`,创建一个新的调试目标,命名为`SRAM`,并将其设为当前调试目标。 3. 在项目管理界面,选择`SRAM`目标,然后进入`Options for Target`对话框,调整`IROM1`和`IRAM1`的起始地址和大小,分别划分出16K作为闪存区域,4K作为RAM区域。 4. 在`Output`选项卡中,勾选`Create HEX File`,以生成便于后续下载的可执行文件。 5. 在`Debug`选项中,选择`Cortex-M3 J-Link`作为调试器,然后在`Initialization File`中选择之前复制的`RAM.ini`文件。取消`Load Application at Startup`,这样可以避免在启动时自动擦写闪存。 6. 在`Settings`中,设置`Interface`为USB,并在`Flash Download`部分选择`Do not Erase`,以保护RAM区域。另外,为SRAM和闪存设置正确的地址范围,如`Start`和`Size`。 7. 如果在`Programming Algorithm`中找不到对应的STM32F10x Med-density Flash,需要手动添加并配置其地址范围。 通过以上步骤,你可以确保在使用Keil MDK 3.5和JLink V7调试STM32的SRAM时,既能有效地利用内存资源,又能避免不必要的闪存擦写,从而降低对硬件的损害,提高调试效率。在实际操作中,记得根据你的具体STM32型号调整相应的配置参数。