GDS-80晶振测试仪操作指南与技术指标

知识点一：晶振π网络分析仪GDS-80系列概述 晶振π网络分析仪GDS-80系列是高性价比的晶振测试系统，采用先进的网络分析技术，具有智能化测量功能，并符合IEC-444标准。该设备适用于测量频率范围为10KHz-200KHz以及1MHz-100MHz的石英晶振，并配备了USB接口以方便数据通讯。 知识点二：晶振测试仪GDS-80的技术特点 该设备采用π型网络零相位法来测量石英晶体元件的串联谐振频率和负载谐振频率，同时运用直接阻抗法测定负载谐振频率和负载电容。晶振测试仪GDS-80具有高测量精度和快速测量速度，支持参数测量功能，包括串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0和频率牵引力Ts等。在负载电容方面，设备提供1-200P范围内的任意编程设置（适用于GDS-80S/P型号），能够满足不同晶振测试需求。该晶振测试仪通过智能网络分析技术解决了市场上一些晶振测试设备存在的精度差和无法测试电参数等问题，并简化了手工校对的流程。 知识点三：晶振测试仪GDS-80的依据标准 晶振测试仪GDS-80的操作和测量参数设定遵循多个标准，包括SJ/Z 9154.1-87/IEC 444-1（1989）标准，关于使用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法；SJ/Z 9154.2-87/IEC 444-2（1980）标准，关于使用π型网络零相位法测量石英晶体元件动态电容的相位偏置法；以及GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010标准，描述了采用自动网络分析技术和误差校正来确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法。 知识点四：晶振测试仪GDS-80的主要技术指标 晶振测试仪GDS-80的中心频率范围为10KHz-200KHz和1MHz-200MHz，并且可以任意设定。它提供±1000ppm的扫描范围，默认为±400ppm。负载电容设定范围为1-200P（仅适用于GDS-80S/P型号）。设备对串联谐振频率Fs的测量范围可设定为±1000ppm，默认为±400ppm，测量精度为±5ppm。在测量串联谐振电阻Fr方面，设备在1MHz-100MHz频率范围内具有1Ω-1000Ω的测量范围（误差为2±10%*RΩ），而10KHz-200KHz范围内则为10K-300KΩ（误差为2±10%*RKΩ）。负载电容CL的具体参数未在提供的内容中显示。 知识点五：晶振测试仪GDS-80的应用 晶振测试仪GDS-80适用于研发、生产过程中对石英晶体元件进行频率和电参数的测试工作，尤其在需要精确测量晶振的各种谐振特性时。该设备的使用可以提高测试的准确性和效率，降低因人工校对或设备限制导致的错误，对于制造高质量石英晶振产品至关重要。 知识点六：晶振测试仪GDS-80的制造商信息 广州智慧源电子有限公司是晶振测试仪GDS-80的制造商，公司电话为020-22306780。该制造商提供高性价比的晶振测试系统，并在文档中提供了产品信息和联系电话，以便用户能够联系公司获取更多信息或技术支持。