复旦大学专用集成电路设计与测试讲义解析

本书是复旦大学针对考研学子编写的《专用集成电路设计方法》讲义，涵盖了专用集成电路（ASIC）的设计原理、经济考量、设计指标、深亚微米设计技术以及集成电路计算机辅助设计（CAD）工具的应用。此外，书中还深入探讨了ASIC的测试方法，包括组合电流模式测试、同步时序电路测试、可测试性设计策略，以及SCMOS集成电路的测试技术。最后，对可编程ASIC进行了全面介绍，包括其结构、资源分类、编程技术、可编程逻辑单元和互连特性，以及相关的开发系统。 在ASIC设计中，经济因素是决定项目可行性的关键因素之一，这涉及到制造成本、设计周期和市场窗口。设计指标则涵盖了性能、功耗、面积和可靠性等多个方面。随着技术进步，深亚微米设计方法成为主流，但同时也带来了新的设计挑战，如信号完整性、电源管理及电磁干扰等问题。集成电路CAD技术的发展对此提供了支持，帮助设计师解决这些复杂问题。 测试方法部分，书中详细阐述了组合电流模式测试的生成算法，包括通路敏化法、D算法和布尔差分法，这些方法用于检测组合逻辑电路的故障。同步时序电路测试生成算法则涉及将时序电路转化为组合电路进行测试的方法。为了提高测试效率和质量，可测试性设计（Testability Design）被广泛采用，包括特定测试性设计、结构可测性设计和内建自测性（BIST）技术，以及测试访问和边界扫描结构的使用。 可编程ASIC作为ASIC的一种形式，提供了灵活性和快速原型验证的优势。它们包括可编程逻辑单元、互连资源，并通过不同的编程技术实现功能定制。可编程ASIC的开发系统，如Xilinx设计开发系统，为设计师提供了集成化的工具链，包括设计输入、逻辑综合、布局布线以及配置方案，使得ASIC设计更加高效和便捷。 这份讲义是理解和掌握ASIC设计及其相关技术的重要参考资料，对于学习者深入理解集成电路领域，特别是专用集成电路的设计与测试，具有很高的价值。