STM32 ADC1：光敏电阻光照强度测量与串口显示

本文档主要介绍了如何利用STM32F103C8T6微控制器结合光敏电阻测量环境光照强度。首先，我们回顾了光敏电阻的基本原理，它是一种半导体器件，其电阻值随光照强度变化而变化，这使得它在光照控制、光度测量等领域有着广泛应用，如硫化镉(CdS)和硒化铟(InSb)等类型。 光敏电阻的优点包括高灵敏度、快速响应、易集成和成本低。然而，其输出不稳定、精度不高以及受环境光线影响较大，这些特性在实际使用时需要通过适当的信号处理来提高测量精度。例如，为了实现精确的光照强度测量，需要定期采集光敏电阻的电压信号，然后通过ADC（模拟数字转换器）将其转换为数字信号，并进行适当的计算。 文档提供了STM32F103C8T6上的实际代码示例，展示了如何操作ADC1模块以获取光敏电阻的电压值。该代码使用了HAL库和CubeMX配置工具，首先初始化硬件，然后配置GPIO引脚以便与光敏电阻连接，接着初始化ADC1和串口通信。在主循环中，程序会启动ADC转换，等待转换完成后，获取ADC的16位数值，通过公式将ADC值转换为光照强度百分比，并通过串口将结果显示，方便后续处理或监控。 总结来说，这份资源提供了一个实践性的教程，帮助读者理解如何在STM32平台上利用光敏电阻测量光照强度，展示了硬件连接、软件编程以及数据处理的完整流程，对于STM32入门者或需要在实际项目中应用光敏电阻测量的工程师具有很高的参考价值。