stm32f103光敏电阻采集光照强度

对于STM32F103单片机，可以通过使用光敏电阻来采集光照强度。光敏电阻的电阻值与光照强度成反比，因此可以通过测量电阻值来间接获取光照强度的信息。

首先，需要将光敏电阻与STM32F103的模拟输入引脚连接。可以选择任意一个模拟输入引脚，比如PA0。然后，使用ADC（模数转换器）模块对光敏电阻的电压进行采样和转换。

以下是一个简单的代码示例，演示如何在STM32CubeIDE中配置ADC和进行光敏电阻采集：

#include "stm32f1xx_hal.h"

ADC_HandleTypeDef hadc;

void ADC_Init(void)
{
  ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};

  // 初始化ADC模块
  hadc.Instance = ADC1;
  hadc.Init.ScanConvMode = ADC_SCAN_DISABLE;
  hadc.Init.ContinuousConvMode = DISABLE;
  hadc.Init.DiscontinuousConvMode = DISABLE;
  hadc.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;
  hadc.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;
  hadc.Init.NbrOfConversion = 1;
  if (HAL_ADC_Init(&hadc) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }

  // 配置ADC通道
  sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_0; // 光敏电阻连接到PA0
  sConfig.Rank = 1;
  sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_3CYCLES;
  if (HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc, &sConfig) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }
}

uint16_t ADC_GetValue(void)
{
  uint16_t adcValue = 0;

  // 启动ADC转换
  if (HAL_ADC_Start(&hadc) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }

  // 等待转换完成
  if (HAL_ADC_PollForConversion(&hadc, 100) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }

  // 读取ADC值
  adcValue = HAL_ADC_GetValue(&hadc);

  // 停止ADC转换
  if (HAL_ADC_Stop(&hadc) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }

  return adcValue;
}

int main(void)
{
  HAL_Init();
  SystemClock_Config();
  
  // 初始化ADC
  ADC_Init();

  while (1)
  {
    // 获取光敏电阻采样值
    uint16_t adcValue = ADC_GetValue();

    // 根据采样值计算光照强度
    float lightIntensity = adcValue * (3.3 / 4096);

    // 在此处进行光照强度的处理和使用

    HAL_Delay(1000);
  }
}

在上述代码中，首先需要调用`ADC_Init()`函数进行ADC模块的初始化和通道配置。然后，在`main()`函数中，通过调用`ADC_GetValue()`函数获取光敏电阻的采样值，然后根据采样值计算光照强度。你可以在获取到光照强度后进行相应的处理和使用。

请注意，上述代码仅供参考，具体的实现方式可能会因硬件连接和项目要求而有所不同。你需要根据实际情况进行相应的调整和修改。另外，还需要在STM32CubeIDE中进行相应的配置，如配置ADC时钟、引脚等。

希望对你有帮助！如有更多问题，请随时提问。