ASIC可测试性设计技术解析与实践

"ASIC可测试性设计技术.pdf"是一本介绍ASIC可测试性设计技术的书籍。本书分为多个章节，包括引言、DFT的基本概念、Ad Hoc技术、结构化设计技术、基于ATPG的扫描测试、DCXP的使用方法和基本命令、DFT实例以及常见问题的解决方法等内容。 在引言部分，作者简要介绍了ASIC可测试性设计技术的重要性，并概述了本书的内容和结构。 接着，在DFT的基本概念章节中，作者详细介绍了DFT（Design For Testability）的基本概念，包括测试容易性、测试向量、测试模式等相关概念，并探讨了DFT在ASIC设计中的作用和意义。 然后，在Ad Hoc技术章节中，作者介绍了Ad Hoc技术在ASIC可测试性设计中的应用，包括其基本原理和应用场景。 接下来，在结构化设计技术章节中，作者详细介绍了扫描技术和内建自测试技术两种主要的结构化设计技术。对于扫描技术，作者介绍了其基本原理、主要阶段和基本时序，并提供了扫描设计的注意事项。对于内建自测试技术，作者介绍了其原理和应用，并探讨了其与扫描技术的关系和区别。 在基于ATPG的扫描测试章节中，作者详细介绍了基于ATPG（Automatic Test Pattern Generation）的扫描测试的基本原理和主要阶段。作者强调了扫描测试在ASIC设计中的重要性，并提供了一些测试向量生成的方法和技巧。 在DCXP的使用方法和基本命令章节中，作者介绍了DCXP（Design Compiler expert plus）的使用方法和基本命令，包括建立设计环境、未映射设计的DFT流程和已映射设计的DFT流程等。 紧接着，在DFT实例章节中，作者提供了一些实际的DFT设计实例，以帮助读者更好地理解和应用所学的DFT技术。 最后，在常见问题的解决方法章节中，作者列举并解答了一些常见的DFT设计问题，包括冗余逻辑、门控时钟、时钟发生器、异步复位的处理、移位寄存器、总线冲突和总线漂移、组合反馈环、latch等问题，并提供了相应的解决方法。 综上所述，"ASIC可测试性设计技术.pdf"是一本深入介绍了ASIC可测试性设计技术的书籍，内容包括DFT的基本概念、Ad Hoc技术、结构化设计技术、基于ATPG的扫描测试、DCXP的使用方法和基本命令、DFT实例以及常见问题的解决方法等。通过学习本书，读者可以全面了解和掌握ASIC可测试性设计技术，并应用于实际的ASIC设计中。