外加基电压调控亚微米/纳米通道电渗流及其应用策略

本文档深入探讨了"亚微米/纳米通道电渗流及控制"这一主题，发表于2008年的华中科技大学学报自然科学版第36卷第9期。作者们，吴健康、王磊和侃，来自华中科技大学土木工程与力学学院，他们的研究聚焦于如何通过数学模型来理解并控制这种在极小尺度（亚微米至纳米级别）的液体流动现象。 研究的核心是利用联立的双电层泊松-玻兹曼方程、液体流动的纳维-斯托克斯方程，以及外加基电压与通道-液体系统之间的电场方程，得到了外加基电压对电渗流影响的解析解。解析解对于理解和预测电渗流的速度变化具有重要意义，特别是当电场作用于固体-液体界面时，Zeta电位会随着外加基电压的变化而响应，从而影响电渗流的强度。 论文重点分析了电渗流速度与外加基电压的关系，揭示了两者之间的动态特性。这种特性对于设计和优化纳米级别的液体传输系统至关重要，例如，通过精确控制外加基电压，可以实现实时调整电渗流，从而达到增加溶液输送量、实现反向流动甚至混合多溶液的目的。这在微流控、生物传感器、药物递送等领域有着广泛的应用前景。 关键词如“电渗流”、“双电层”、“亚微米/纳米通道”、“基电压”和“Zeta电位”都直接体现了论文的核心内容，它们构成了论文研究的基础和关键术语。此外，文章还被分类在0363类别下，并遵循了标准的文献标识码A，文章编号为1671-4512C，表明其符合学术期刊的标准出版规范。 这篇论文提供了一个深入的理论框架，用于理解和控制亚微米/纳米尺度的电渗流现象，对于推进相关领域的技术发展具有重要的理论价值和实际应用意义。