Loopback测试技术在RFIC内建自测试中的应用

"一种基于环路结构的RFIC内建自测试方法" 本文是一篇研究论文，由崔伟、冯建华、叶红飞和闫鹏共同撰写，得到了国家自然科学基金的支持，并发表在2014年7月的《北京大学学报(自然科学版)》第50卷第4期上。该论文提出了一个创新的内建自测试（BIST, Built-In-Self-Test）方法，主要针对射频集成电路（RFIC）设计，利用环路（Loopback）测试技术来实现。 环路测试是一种广泛用于验证电子系统内部信号完整性的方法，它通过将输出信号馈送回输入端，从而在系统内部形成一个闭合的信号路径。在RFIC设计中，这种方法可以用来检测和识别电路中的潜在故障。论文中，研究人员设计了一种可编程的CMOS衰减器，这是实现基于环路结构的BIST的关键组成部分。 可编程CMOS衰减器允许在不同测试阶段调整信号的衰减程度，以适应不同的测试需求和故障检测条件。通过这种衰减器，可以精确控制进入环路的信号强度，确保测试的准确性和有效性。在RF收发器的测试中，采用此BIST方法成功地检测出了系统的故障，证明了其在生产测试中的适用性。 此外，这种测试方法还带来了显著的优势，包括减少了测试时间和降低了测试成本。在传统的外部测试设备中，RFIC的测试通常需要昂贵的测试仪器和复杂的操作步骤。而内建自测试技术则可以将部分测试功能集成到芯片内部，简化测试流程，提高测试效率，同时降低对外部测试设备的依赖。 论文关键词包括：内建自测试、Loopback、可测性设计、衰减器、射频集成电路以及误差向量幅度（EVM）。EVM是评估无线通信系统性能的重要指标，它可以量化信号传输的失真程度。在本研究中，EVM可能被用作评估RFIC性能和测试效果的参数。 这篇论文提供了一种新的RFIC测试策略，通过环路结构和可编程CMOS衰减器实现了芯片内部的自我诊断，有助于提升RFIC产品的质量和可靠性，同时降低生产和维护成本。这一成果对于推动射频集成电路的设计和制造领域具有重要的理论和实践价值。