Hi3137V100信道指标测试详解

"Hi3137V100 信道指标测试指南" 本文档是针对Hi3137V100芯片的详细测试指南，该芯片主要用于DVB-T2（数字地面电视标准）和DVB-T模式的信道解调。由深圳市海思半导体有限公司编写并发布，其主要内容涵盖了Hi3137V100在这些标准下的信道性能指标测试方法。 产品概述 Hi3137V100是一款高性能的信道解调芯片，设计用于处理DVB-T2和DVB-T传输系统中的信号解调。DVB-T2是第二代数字地面广播标准，提供了更高的频谱效率和更强的抗干扰能力，而DVB-T则是它的前身，这两种标准在许多国家广泛采用。 目标读者 此测试指南主要面向以下专业人员： 1. 技术支持工程师：负责解决与Hi3137V100芯片相关的技术问题。 2. 硬件开发工程师：参与基于Hi3137V100的硬件设计和实现。 3. 软件开发工程师：编写和优化与芯片交互的驱动程序和应用软件。 文档结构 文档分为多个章节，详细介绍了测试流程和步骤。例如，"DBook7.0-DVB-T2测试"章节可能包含了按照DVB-T2标准执行的测试项目，如误码率测试、星座图分析、信噪比(SNR)测量等。这些测试旨在确保芯片在实际操作环境中能够正确解调信号，满足传输标准的要求。 版本和修订历史 文档的初始版本为00B01，发布于2014年3月4日，之后可能会有进一步的修订和更新，以反映产品改进和新的测试需求。 法律声明 文档的所有权归深圳市海思半导体有限公司所有，未经许可，禁止摘抄、复制或传播。此外，文档中提到的产品、服务和特性可能受海思公司的商业合同和条款限制，且不提供任何明示或暗示的担保。 联系方式 海思半导体提供了公司的地址、网站和客户服务邮箱，便于用户获取更多支持和服务。 "Hi3137V100 信道指标测试指南"是一个全面的参考资料，旨在帮助工程师们有效地测试和验证Hi3137V100芯片在DVB-T2和DVB-T标准下的性能，确保其在实际应用中的稳定性和可靠性。通过遵循这份指南，可以确保产品开发和维护过程中的高质量标准。