软件X 10（2019）100282原始软件出版物RxpsG是一个新的开放项目，用于光电子和电子光谱数据处理Giorgio Speranzaa，b，c，candy，Roberto CanteriaaFondazione Bruno Kessler，via Sommarive 18，38123，特伦托，意大利b意大利特伦托大学工业工程系，地址：Via Sommarive 9，38123 TrentocIstituto di Fotonica e Nanotecnologie，IFN-CNR，via alla Cascata 56/C，38123 Trento，Italygr a p h i c al a b st r a ctar t i cl e i nf o文章历史记录：收到2019年2019年7月1日收到修订版，2019年关键词：光谱分析XPSAESR项目a b st ra ct数据分析和绘图是伴随任何科学家的研究工作的重要组成部分。 一旦实验结束，通常一个软件允许数据减少，如选择本底及其扣除、峰拟合、图形可视化等方法可用于对结果进行正确的解释。RxpsG是一个公共领域的软件，具有简单的用户友好界面，面向X射线光电子能谱（XPS）和俄歇电子能谱（AES）数据处理，基于R平台。该软件实现了分析XPS、AES光谱所需的所有功能，并允许立即报告数据。虽然RxpsG主要用于电子和光电子光谱分析，但它允许加载和处理任何文本格式的数据。RxpsG是一个对贡献和新程序的实现开放的项目。在这项工作中，我们将描述软件的潜力和更重要的功能。©2019作者由爱思唯尔公司出版这是CC BY许可下的开放获取文章（http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/）中找到。通讯作者：Giorgio Speranza，布鲁诺·凯斯勒基金会，viaSommarive 18，38123，Trento，Italy.电子邮件地址：speranza@fbk.eu（G. Speranza）。https://doi.org/10.1016/j.softx.2019.1002822352-7110/©2019作者。 由Elsevier B.V.出版。这是一篇开放获取的文章，使用CC BY许可证（http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/）。可在ScienceDirect上获得目录列表SoftwareX期刊主页：www.elsevier.com/locate/softx2G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）100282==代码元数据当前代码版本RxpsG-2.1此代码版本使用的代码/存储库的永久链接https://github.com/ElsevierSoftwareX/SOFTX_2019_35法律代码许可证GNU通用公共许可证版本2使用的代码版本控制系统软件代码语言R 编程语言编译要求、操作环境&依赖性 执行在 R环境如果可用，链接到开发人员文档/手册R文档，可用于R项目：https://www.r-project.org/RxpsG包提供了一个在线手册。问题支持电子邮件speranza@fbk.eu软件元数据当前软件版本RxpsG 2.1此版本可执行文件的永久链接https://github.com/GSperanza/RxpsG法律软件许可证GNU通用公共许可证版本2计算平台/操作系统R适用于所有三种消费者操作系统（OS）（Linux、Mac和Windows）以及面向服务器的Solaris OSRxpsG需要安装R和Rstudio以及以下库列表：grid，baseline（>1.2），digest，lattice，latticeExtra，memoise，minpack.lm，FME，NORMT 3，signal，sm，SparseM，wavelets，tcltk，tkrplot，gWidgets 2（>1.0-7），gWidgets 2 tcltk如果可用，用户手册链接-如果正式出版，请在参考列表中引用该出版物RxpsG软件包中提供了在线手册。只需点击帮助选项即可访问手册。问题支持电子邮件speranza@fbk.eu1. 介绍光电子能谱是表面科学的重要工具。这源于通过测量X射线光发射和俄歇电子的动能来推导分析材料的化学成分的可能性[1，2]。从本质上讲，电子发射是基于A.爱因斯坦因此获得了1921年的诺贝尔奖。撞击材料的高能光子可以将其能量的部分或全部释放给原子的电子。如果吸收的能量足够，则激发的电子可以逃离原子轨道并在材料基质中发射。在这里，它们在所有方向上传播，经历与材料原子的弹性和非弹性散射。这些在表面几纳米内产生的电子可以在真空中发射，在真空中它们被能量分析仪收集，测量它们的动能。这就是为什么XPS是一种表面分析技术的原因。这同样适用于AES电子。在这种情况下，X射线或电子束在半导体中产生孔。核心原子轨道这导致弛豫过程，其中释放的能量同时转移到外原子轨道中的电子，即发射的俄歇电子俄歇和X射线发射电子的动能取决于发射原子的电子结构，并且可以用于识别它们，使得XPS和AES对材料成分敏感。因此，这些技术在六十年代发展起来，经历了不断的改进，是材料科学、化学和工业中开发新材料的关键工具。更好的探测器的开发与越来越多的计算能力促进了用于光谱数据分析的复杂软件包的创建。数据分析是一个重要的数据简化过程，包括可视化，通过平滑，建模和重新绘制来消除噪声。一个功能强大的数据处理环境提供了一个完整的光谱分析选项列表，可以大大简化数据manipulation，同时提供了正确的解释手段有一些商业软件包可以处理XPS AES数据。与这些软件不同的是，RxpsG是一个开源项目来执行光谱分析。它是利用R平台的潜力开发的，不仅用于计算部分，还用于控制简化软件使用所需的所有图形用户界面（GUI）。至于本机文件格式，RxpsG可以加载通用ISO 14976 VAMAS和PXT二进制或DOS 二 进 制 （ 分 别 为 Scienta-Omicron 或 旧 的 Scienta-Seiko 格式）。此外，它可以加载ASCII格式的任何类型的数据。根据需要，特定的rout- tines可以很容易地集成在程序中，以加载其他类型的数据格式。RxpsG包括许多功能，如减去不同的背景，平滑使用不同的过滤器，峰值拟合与一系列的功能，元素定量，并包括强大的图形功能，允许合适的和个性化的数据表示。最后，分析的数据以RData二进制格式保存以供存档，或者可以以ASCII格式导出以供其他类型的应用程序使用。报告是非常容易的，因为任何有关配合和量化的信息都可以复制此外，所有绘图都可以在基于UNIX的系统中以主要的图形格式（图元文件、postscript、pdf、bmp、png、tiff和jpeg）轻松保存，然后在文档编辑器中导入，或者最后，软件附带了一本手册，详细描述了所有RxpsG选项RxpsG已被用于光谱分析，在此期间进行了测试，并逐步改进，并贡献给几个出版物[3本文介绍了RxpsG的主要特点及其在实际XPS谱分析中的应用。2. 软件框架2.1. 软件构架R是用于统计计算和图形的自由软件环境（有关R特性的更多详细信息，请参见R-platformG. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）1002823环境特征[9]。R与各种UNIX兼容，Windows和MacOS使RxpsG在这些操作系统下运行。软件是在自由软件基金会的GNU通用公共许可证条款下以源代码形式发布的。RxpsG是一个模块化的结构，允许通过执行定制的文件处理例程，数据分析的特定过程或图像处理或统计分析的其他程序，轻松扩展其功能。除了基本的R库，RxpsG宏还需要一个必须在R环境中加载的附加包列表：baseline [10]，deSolve [11]，digest[12]，FME[13]，gWid-[14] ，gWidgets2tcltk[15] ，lattice[16] ，latticeExtra[17 ] ，gWidgets2tcltk [ 16 ]，gWidgets2tcltk [ 17] ，gWidgets2tcltk [ 17 ]，gWidgets2tcltk [18]，gWidgets2tcltk [19]，gWidgets2tcltk [19]Oise[18]，minpack.lm[19]，NORMT3[20]，RColorBrewer[21]，root-求解，MASS[22]，信号[23]，sm[24]，SparseM[25]，小波[26]。RxpsG架构如图所示。1.一、 实验数据可以加载到程序主存储器（R .全局环境）中。通常XPS或AES数据文件由几个部分组成。我们描述了XPS数据文件的分析，然而，该描述同样可以应用于AES数据文件。典型的 XPS分析由测量组成，即在低能量分辨率下的宽光谱和/或由核心线列表组成，获得光谱更高的能量分辨率。文件选择和加载通过合适的界面进行，所有光谱分量都自动可视化。在图2中示出了RxpsG主前端。在左手边显示了所有加载的文件，可以单独选择，其内容通过一个简单的鼠标双击。该软件是使用R面向对象的编程能力编写的。主要对象是由“抽象”XPS核心线和XPS样本类定义的XPS-Sample对象基本上是XPS Core-Lines的列表，加上一些关于样品合成和所执行分析的一般信息的插槽。XPS-Sample对象由以下示例表示：The 然后，XPS样品可以被视为实际上无限数量的核心线对象的容器类似地，Core-Line对象的结构由包含插槽列表的块表示。这些块的数量将对应于在实验中获得的芯线的数量。在由三个光谱组成的XPS分析的实际情况下，即如可以看到的，每个核心线结构由专用于原始数据的槽、专用于被选择以执行背景减除的区域的槽（@RegionToFit槽）、用于该目的的基线函数（@Baseline槽）和与峰拟合相关的所有信息（所利用的拟合函数，4G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）100282图1.一、R x p s G 的 示意图。Vamas，PXT和ASCII文件可以加载和可视化。显示了主要数据处理功能的列表图二. 主要的RxpsG前端。在左侧列出了加载到程序主存储器中的数据文件列表。文件选择是通过双击文件名完成的。使用鼠标右键可访问和选择文件内容最佳拟合函数、残差等存储在@Components和@Fit插槽中）。因此，XPS样品和芯线结构的定义使得能够分配动态存储器来存储最初未知数量的XPS光谱。此外，可以为每个对象类定义特定的“方法"。这允许为每种特定类型的数据对象应用定义良好的过程例如，plot（）函数在XPS-Sample类上的作用不同，在XPS-Sample类中，仅显示原始数据，在Core-Line类对象上，分析时，基线、拟合分量和最佳拟合将自动显示。示出了GUI收集了所有的方法，方便用户正确应用不同的数据操作程序。最后，在[27]中描述的220条曲线的数据库（由美国国家标准与技术研究院提供）上测试RxpsG软件，以将其性能与执行类似分析的软件包的结果进行比较。作为参考，使用[27G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）10028252.2. 软件描述图3.第三章。 RxpsG分析菜单的项目。安装更合适的软件包，可以直接将软件包函数应用于XPS-Sample数据软件功能出现在自我解释的用户界面其中逻辑上组织操作以使数据处理尽可能容易更复杂的任务需要单独设置或选择适当的函数来模拟实验数据。为了帮助正确选择更合适的功能，RxpsG提供了一本手册，其中描述了所有选项。手册还包含与特定操作相关的所有参考，例如基线定义、拟合函数定义、滤波器定义. . ）的。有公认的商业软件执行类似的操作。我们观察到电子-光电子-光谱的数据简化尽管商业软件包显示出不同的特性，但它们都执行类似的基本操作，包括利用不同函数的背景减除、平滑、用专用线形拟合峰、量化和数据可视化。正如所观察到的，RxpsG也使用即时用户友好的GUI执行这些任务。然而，与现有的软件包相比，RxpsG有一些优势：（i）它是一个开源的免费项目，预计将被XPS用户社区不断改进和集成。执行特定操作的新GUI可以很容易地集成到RxpsG主体中;（ii）R项目环境中的任何代码都必须是可访问的。R的包括RxpsG包在内的每个库。用户可以根据自己的需要自由修改/个性化代码(iii)RxpsG软件是用R开发的，根据定义，它与该环境的所有软件包兼容。只要安装了相关的库，R的任何功能都可以立即使用。这些功能可以直接使用R-Studio界面或通过用户可以自由实现的GUI应用于XPS光谱数据。作为一个例子，在R项目中有几个库可以选择用于多变量分析。在R.最后，还有一些RxpsG特有的功能。其中包括：移动拟合组分以检查材料化学计量;峰拟合算法：在收敛问题的情况下，不仅可以使用最小二乘最小化，还可以使用共轭梯度和伪随机方法;量化界面允许轻松更改RSF和包含/排除选定的拟合组分;使用线性、非线性阈值和Hill sigmoid方法进行VB边缘定义的价带分析注意，FIR或IIR滤波器需要用于二阶导数频谱分析[30];光谱数据处理允许应用简单的数学运算来耦合光谱、连接光谱、复制芯线之间的手动和自动峰识别;自定义数据重绘，以准备演示图2.2.1. 分析菜单选项如前所述，RxpsG主要用于XPS和AES光谱分析。实现了一系列功能，使光谱处理容易。加载时，VAMAS数据由分析仪响应进行校正（如果该数据包含在文件中）。在信息-帮助菜单中，选项XPS-Sample Info提供了与实验相关的所有信息和采集的核心线列表。选择其中一个，将显示采集条件。········6G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）100282总结了光谱数据处理的基本任务在图3所示的分析菜单中。所有选项都在交互式图形窗口或适当的GUI中实现。让我们回顾一下各种选择：分析了背景减除基线的定义和拟合函数的定义;拟合约束允许定义正确峰拟合所需的约束适合Lev.Marq.，拟合模块拟合：在RxpsG中实现了两种不同的峰拟合方法。第一个应用Lev-enberg Marquardt算法。在第二种情况下，利用基于最小二乘最小化或混合模型或随机模型（基于Metropolis算法）的若干模型来执行移动组件：使用此功能，用户可以手动控制元素化学计量，移动单个配合组件，同时确保获得合理的配合;定量：使用适当的灵敏度因子进行元素定量，用于计算元素浓度。能量偏移：在非导电样品上获取XPS光谱需要电荷补偿，导致能量标度的偏移。此选项允许能量标度相对于参考能量值进行对齐处理芯线：此选项允许在芯线上的操作列表，包括：核心线复制或去除、复制整个核心线或简单基线或来自另一个XPS样品的完全峰拟合、常数的添加、常数的乘法、微分、两个核心线的组合、基线减法。从调查中提取：能够从宽光谱中裁剪所需的特征;移动基线：用于修改基线的延伸和水平;平滑：可以使用不同类型的滤波器进行噪声去除：SawitzkyGolay ， 自 回 归 ， 移动平 均 ， 自 回 归 + 移 动 平 均 ， FFT ，Wavelet，FIR，IIR。VB顶部估计：有时定义价带的上边缘很重要。这可以在基于线性、非线性和Hill-Sigmoid拟合的三种不同过程中执行;重置分析：此选项用于删除单个拟合组件或在芯线上执行的部分分析，以优化数据处理;修饰：可以通过编辑光谱数据值来直接校正尖峰或单个数据;元素识别、芯线和俄歇表：宽光谱中的光谱特征可以通过自动程序识别，自动程序的灵敏度可以通过选择方便的阈值来改变。一旦峰被正确识别，它们就可以被分配给相应的化学元素。该选项还提供XPS和俄歇表，列出所有化学元素的能量位置。点击一个元素，相应的芯线和/或俄歇特征的位置将显示出来。VMS数据传输校正：执行数据传输校正。当仪器制造商为采集的光谱提供校正值列表时，默认执行此操作2.2.2. Plot菜单选项Plot菜单专用于图形数据可视化（见图10）。 4）.与双击XPS样品名称导致光谱可视化相同;频谱选择：允许选择所需的核心线;叠加光谱：光谱的解释通常依赖于不同XPS样品数据的比较，以更好地理解特定处理/合成方法的效果。重叠光谱可以使用此选项执行，其中包括选择绘图样式（颜色，线型，符号，2D，3D）;自定义绘图：准备数据以供发布通常是一项耗时的工作。该选项旨在简化工作，允许逐步构建图形（轴编号和标签的大小、标题的大小、颜色、线型和符号、图例和注释）;双Y标度图：有时需要在同一图形中表示在不同Y范围上延伸的数据。此选项使用两个不同的Y尺度绘制数据为了简化数据集和相对Y标度之间的相关性，它们使用相同的颜色绘制注释：选项添加注释的数字;缩放和光标：可以对宽光谱和核心光谱的单个部分进行缩放 。 The ‘‘cursor’’ option returns the cursor position(energy, intensity) by clicking on the spectrum shown inthe graphical图形设备选项：默认情况下，程序为Windows系统设置图形设备。在这里，更改此默认值并设置适合自己操作系统的默认值。在这里，还可以选择文件格式来保存图形窗口的内容，以便在文本编辑器中导入图片;设置分析窗口大小：默认设置中等尺寸，适合普通PC屏幕的尺寸对于膝上型计算机，这些尺寸可能太大，可以减小;2.2.3. 信息菜单选项信息-帮助菜单提供有关XPS样品的信息。XPS样品信息返回有关原始数据和分析的采集条件的信息。Core-Line Fit Info：返回所使用的背景函数和拟合线形的相关信息，以及相应的拟合参数;分析报告：总结对每个分析的芯线进行的分析结果。帮助：打开RxpsG手册描述每个软件的功能.3. 说明性实例RxpsG的部分潜力可以在以下示例中示出3.1. 复峰拟合图图5示出铈3d芯线的峰拟合。利用用于背景减除的样条和十个高斯分量进行拟合。数据的讨论发表在[6，7]中。通过使用“拟合约束”GUI强制拟合组件的FWHM相等然后使用LevenbergMarquardt算法获得最佳拟合。····························G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）1002827∼∼∼见图4。RxpsGPlot（RxpsG图）菜单的项目。图五、 分析GUI。选择Ce 3d芯线如左侧所示，选择样条背景函数用于背景减除。3.2. 拟合和精确分析峰值拟合性能的示例在图6A中示出。该拟合涉及在真空下剥离的高度定向热解石墨（HOPG）上获得的碳1s芯线作为半金属，石墨必须用Doniach Sunjic（DS）函数拟合[31]I（E）=Γ（1−α）/[E2+γ2]（1−α）/2πcos[πα/2+（1−α）arctan（E/γ）]其中，γ表示DS线形的半高宽，而α表示由电子损失产生的C1的高结合能侧的不对称尾部。图图6A示出了应用Shirley背景减除并使用纯DS函数获得的最佳拟合。在第一种情况下，原始DS函数无法描述C 1的。观察到与原始数据的偏差，283eV，在288 eV的区域和损失的功能是不正确的描述相对DS尾部。如图6B所示，使用DS函数加上高斯加宽获得了更好的结果。在较低的结合能下观察到尾部，其中现在不存在与原始光谱的偏离，并且还适当地描述了292 eV处的损失特征。在图6C中，示例显示了来自还原的氧化石墨烯（rGO）的C1s的峰拟合。氧化石墨烯（GO）由酸中的石墨剥离获得。rGO由GO薄片应用GO的热还原或化学还原获得。在这种情况下，拟合过程是微妙的，因为在高结合能下的尾部强度不仅来自于以双光子形式组织的碳原子，在石墨中，但也从残余氧原子（即碳氧键）的存在。8G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）100282=见图6。（A）使用纯DS函数获得的HOPG C1 s拟合;（B）使用DS +高斯加宽拟合函数获得的HOPG C1 s拟合;使用相同的DS函数拟合C1 s形式的还原的氧化石墨烯原始数据显示为黑色，拟合组件显示为蓝色，最佳拟合显示为红色。(For对本图图例中所指颜色的解释，读者可参考本文的网络版为了解决这个问题，首先使用HOPG拟合来描述rGO的石墨碳组分，然后添加氧化碳组分的贡献。使用工艺芯线选项，HOPG的最佳拟合优于rGO碳芯线。然后将高斯加宽添加到原始DS线形以描述rGO典型缺陷的存在。曲线不对称性在拟合过程中保持固定。在286eV-290eV范围内的较高强度用分别归属于C-OH、O-C-O和-O-（C O）键的三个额外的高斯分量来描述（见图10）。 6C）。3.3. 价带顶价带VB上边缘指示材料的导电、半导电或绝缘性质。例如，为了理解跨半导体异质结构的界面的输运性质，需要准确地了解价带偏移ΔVBt。这提供了决定许多半导体器件（例如薄膜太阳能电池）的效率的电子-空穴复合速率的信息在下面的例子中，我们将展示专用于估计VB顶部的GUI。图 7 A表示主GUI页面。这里必须定义VB背景和执行VB-top分析的区域这个任务很容易通过一个图形交互式窗口完成，其中背景的边缘（图7A中的红色圆圈）可以通过简单地使用鼠标在VB光谱上进行调整。GUI的确认和重置按钮设计用于继续或重新开始分析。 第二个GUI页面是专门为三个VB拟合程序：线性，非线性和希尔Sigmoid这是在图中表示。第7B节。图形界面窗口再次显示要适配的VB部分 只需用鼠标点击所需的值，以适应VB可以定义（在这个例子中，希尔S形最大值，弹性点和最小值表示的绿色十字架在图。7B）。Add Hill Sigmoid、Fit和Reset Fit按钮分别允许通过定义的点添加Sigmoid函数，完成最佳拟合并在需要时重置分析最后，按下“估计VB顶部”按钮，拟合的希尔S形用于计算图中橙色十字表示的价带顶部。第7 B节。3.4. 图形性能最后一个例子是数据的图形可视化。在图8中示出了由图形选项叠加光谱提供的一组不同的可能性。GUI提供了设置任何图形参数的可能性。标题、坐标轴标签和编号可以更改和调整大小，以符合标准出版物的要求。在B/W中，可以使用不同的线图案或符号（图8A）。彩色图利用实线和空圆绘制数据（图8B，E）。光谱也可以很容易地可视化在3D中以两种不同的方式（图8 C，D）或以“瀑布"格式（图8 C）。 8 E，F）添加标签和注释（图。 8 F）。Overlay Spectra提供的另一个选项是使用多个面板进行表示。光谱可以绘制在一个或单独的图形。最后一个选项是有用的，当为了清楚起见，必须保持分离的数字，如在光谱与基线，拟合组件和最佳拟合的情况下。这种情况的一个例子如图所示。图9表示热退火对在碳氧化硅样品上获得的C1s谱的影响。图图9A示出了未处理样品的光谱。原始数据以黑色表示，拟合分量为浅灰色虚线，掩盖基线（蓝色虚线）。最后，最佳拟合用红色表示。在面板的上半部分，报告了光谱名称和数据文件名称，以识别母体样品。 图 9 B显示的 是在1000 ℃退火的碳氧化硅样品上获得可以观察到C1s强度的强烈降低很可能是由于碳化物分解而获得的。图的约定与图的约定相同。上午94. 结论RxpsG是一个基于R平台的开源项目。这确保了软件与更分散的操作系统兼容旨在G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）1002829见图7。 （A）主页面专用于定义VB背景和执行VB顶部估计的区域。(B)希尔S形拟合（英寸红色）和估计VB顶部（橙色十字）图8.第八条。 一组C 1 s芯线的 不 同 图 形 表 示 ， 使用不同的 线条图案， 以B/W颜色（A）、实线（B）或符号（E）、2D或3D绘图(C)和（D），或以软件包提供了一个简单而强大的工具来分析XPS和AES数据。目前，该软件读取VAMAS，PXT和ASCII格式的数据文件然而，该软件是非常灵活的，并且其兼容性可以通过实现适当的例程来加载数据而扩展到任何其他类型的数据格式。读取ASCII数据的可能性使软件能够用于分析任何类型的数据。平滑，背景减除，可以在RxpsG中容易地执行峰值拟合以及使用不同样式的数据可视化。RxpsG是在开源GNU许可证下发布的，是一个开放项目。作者鼓励读者为实现附加功能做出贡献，以满足进一步的需求。这将有助于保持软件独立于任何制造商，同时保持最新。10G. Speranza和R. Canteri / SoftwareX 10（2019）100282见图9。 一组单独的面板，显示在未经处理的碳氧化硅样品（A）上获得的每个碳1s芯线的基线和拟合分量以 及 在1000摄氏度下退火的样品。黑色实线用于原始数据，拟合分量以灰色虚线绘制，同时显示最佳拟合红衣基线由管件构件遮罩竞合利益与本文相关的作者没有披露任何可能被认为与本工作即将发生冲突有关完整披露声明，请参阅https://doi.org/10.1016/j.softx.2019.100282。致谢作者要感谢纽约城市大学的John Verzani教授给予的支持和有益的讨论，以及J.M. Conny和C.国家标准与技术研究所的鲍威尔允许在他们的数据库上测试RxpsG软件。引用[1]Briggs D，Grant J，编辑.通过俄歇和X射线光电子能谱进行表面分析。IMPPublications;2003.[2]Briggs D，Seah MP，编辑。实用表面分析仪101俄歇和X射线光电子能谱。J.Wiley Sons; 1990.[3][10]杨晓，李晓，李晓.成骨细胞样细胞在涂覆有超薄聚合物纳米膜的PEEK上的骨纤维素粘着斑。J. 应用聚合物Sci. 2015;132：42181，1-9.[4]Awaja F，Speranza G.超薄聚合物涂层促进神经细胞与神经植入物整合。冲浪。Interfaces2016;1-3：44-51.[5]Awaja F ， Speranza G ， Kaltenegger H ， Coraça-Huber D ， Lohberger B.GO/聚合物薄涂层作为用于组织再生的优异生物活性平台的表面改性和表征。Mater. Sci. Eng. C2017;84：130-9.[6][10]杨文辉，李文辉. 沉积和HPDC低硅铝合金铈基转化膜的表征J.电化学Soc. 2017;164：C581-90。[7][10]张文辉，张文辉. 选择性沉积的研究机制的铈基转换，转换流变HPDC铝硅合金上的SiON涂层。电化学。Acta2017;255：449-62.[8]范阮C，Bartali R，Crema L，Speranza G.玻璃表面处理对通过滴铸法沉积高度透明的还原氧化石墨烯膜的影响。胶体表面物理化学发动机吸气2016;498：231-8.[9]统计计算R项目，https://www.r-project.org/，n.d.[10]Hovde K，Mevik BH. Spectra R软件包版本12-0（2015）的基线校正。[11]吴伟杰，王晓刚，王晓刚.在R中求解微分方程：包desolve。J. 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