module count17( input wire CLK, input wire KEY1, input wire KEY2, output wire TC17, output wire [7:0] Q ); //功能定义 wire PL,RC0; wire CEn; assign CEn = KEY2 | ~KEY1; assign PL = ~(~Q[7]&~Q[6]&~Q[5]&~Q[4]&~Q[3]&~Q[2]&~Q[1]&~Q[0]); assign TC17 = ~Q[7]&~Q[6]&~Q[5]&~Q[4]&~Q[3]&~Q[2]&~Q[1]&Q[0]; //2个74LS190例化 LS190 cu0( .CP ( CLK ), .PLn ( PL ), .CEn ( CEn ), .DN_UPn ( 1'b1 ), .D (4'b0111), .RC ( RC0 ), .TC ( ), .Q ( Q[3:0] ) ); LS190 cu1( .CP ( RC0 ), .PLn ( PL ), .CEn ( CEn ), .DN_UPn ( 1'b1 ), .D (4'b0001), .RC ( ), .TC ( ), .Q ( Q[7:4] ) ); endmodule 生成测试文件
时间: 2024-03-17 16:40:04 浏览: 124
FPGA以太网input delay、output delay时序约束
以下是一个示例的 Verilog 测试文件,用于测试上述模块的功能:
```
`timescale 1ns / 1ps
module count17_tb;
// Inputs
reg CLK;
reg KEY1;
reg KEY2;
// Outputs
wire TC17;
wire [7:0] Q;
// Instantiate the Unit Under Test (UUT)
count17 uut (
.CLK(CLK),
.KEY1(KEY1),
.KEY2(KEY2),
.TC17(TC17),
.Q(Q)
);
initial begin
// Initialize inputs
CLK = 0;
KEY1 = 0;
KEY2 = 0;
// Wait for 100 ns for the circuit to settle
#100;
// Test case 1: Count up from 0
KEY1 = 1;
#10;
KEY1 = 0;
#10000;
assert(Q === 8'h01);
assert(TC17 === 0);
// Test case 2: Count up to 17
repeat(16) begin
KEY1 = 1;
#10;
KEY1 = 0;
#10000;
end
assert(Q === 8'h11);
assert(TC17 === 1);
// Test case 3: Count up from 16
KEY1 = 1;
#10;
KEY1 = 0;
#10000;
assert(Q === 8'h10);
assert(TC17 === 0);
// End simulation
$finish;
end
always #5 CLK = ~CLK;
endmodule
```
这个测试文件使用了 Verilog 的测试框架,并对模块进行了三个测试用例的测试。在每个测试用例中,测试文件会在一定的时钟周期内提供输入信号,并在每个时钟周期后检查输出信号是否符合预期。如果输出信号与预期不符,则测试失败。
您可以根据需要更改测试用例,并使用仿真工具(如 ModelSim 或 Questa)来运行测试文件并检查测试结果。如果所有测试用例都通过,则可以确定模块的功能正确性。
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