design for test中EDT Structure的主要模块有哪些
时间: 2024-06-11 18:05:53 浏览: 8
Design for Test (DFT)中,EDT Structure的主要模块包括:
1. Scan Chains:用于将测试数据和控制信号传递到芯片内部,以便对芯片进行扫描测试。
2. Boundary Scan Cells:用于在IC的I/O引脚上提供测试访问,以便进行边界扫描测试。
3. Memory BIST:用于测试芯片内存单元的Built-In Self-Test模块。
4. Logic BIST:用于测试芯片逻辑电路的Built-In Self-Test模块。
5. Built-In Self-Repair (BISR):用于检测和修复芯片内存单元故障的Built-In Self-Repair模块。
6. Analog Test Access Port (ATAP):用于测试芯片的模拟电路。
7. Power and Ground (P/G) Test:用于测试芯片的电源和地接点,以确保它们工作正常。
8. Test Compression:用于减少测试数据的数量,从而提高测试效率。
9. Test Pattern Generation:用于生成测试模式,以覆盖芯片的所有可能故障情况。
相关问题
design for test中引入EDT的原因
设计测试(Design for Testability)是一种在设计阶段就考虑测试的方法。设计测试的目的是使产品易于测试,以便在产品开发过程中及时发现和修复缺陷,从而提高产品质量和减少成本。
引入EDT(Embedded Deterministic Test)的原因是为了提高测试的效率和可靠性。EDT是一种嵌入式确定性测试技术,它可以在产品的设计阶段就将测试功能嵌入到产品中,从而实现快速、准确和可重复的测试。
EDT可以帮助设计人员在设计阶段就确定测试点和测试方法,并将测试模式集成到芯片或系统中。这样,测试人员就可以在测试阶段更快地测试产品,并减少测试成本和时间。
此外,EDT还可以提高测试的可靠性。由于测试模式是嵌入在产品中的,因此可以保证测试的一致性和可重复性。同时,EDT还可以检测到产品中的隐含故障,并及时通知设计人员进行修复,从而提高产品的可靠性和稳定性。
因此,引入EDT可以帮助设计人员和测试人员更好地合作,提高产品的质量和可靠性,同时也可以降低测试成本和时间。
如何确保代码在edt线程中执行呢
在 Java 中,可以使用 `SwingUtilities.invokeLater()` 或 `EventQueue.invokeLater()` 方法将代码放入 EDT 线程中执行。这两个方法都可以确保你的代码在 EDT 线程中执行,从而避免了访问 Swing 组件时的线程安全问题。
例如,你可以使用以下代码将一段代码放入 EDT 线程中:
```
SwingUtilities.invokeLater(new Runnable() {
public void run() {
// 在此处放置你的代码
}
});
```
或者,你可以使用以下代码实现相同的效果:
```
EventQueue.invokeLater(new Runnable() {
public void run() {
// 在此处放置你的代码
}
});
```
这两种方法都可以确保你的代码在 EDT 线程中执行,并且不会触发读取操作的异常。
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