基于stm32光照强度检测程序

好的，基于STM32的光照强度检测程序可以通过以下步骤来实现：

1. 硬件准备：准备一个光敏电阻模块和一个STM32开发板，将光敏电阻模块的输出端口连接到STM32的模拟输入口。

2. 代码编写：使用STM32的HAL库，编写程序读取模拟输入口的电压值，并将其转换为相应的光照强度值。

3. 调试测试：将程序烧录到STM32开发板上，并将光敏电阻模块放置在不同的光照条件下测试程序的准确性和稳定性。

以下是一个简单的基于STM32的光照强度检测程序示例：

#include "stm32f1xx_hal.h"

ADC_HandleTypeDef hadc;

void SystemClock_Config(void);
static void MX_GPIO_Init(void);
static void MX_ADC1_Init(void);

int main(void)
{
  HAL_Init();
  SystemClock_Config();
  MX_GPIO_Init();
  MX_ADC1_Init();

  while (1)
  {
    HAL_ADC_Start(&hadc);
    HAL_ADC_PollForConversion(&hadc, 100);
    uint16_t adc_value = HAL_ADC_GetValue(&hadc);
    float voltage = adc_value * 3.3 / 4096;
    float lux = voltage * 100;
    HAL_Delay(1000);
  }
}

void SystemClock_Config(void)
{
  RCC_OscInitTypeDef RCC_OscInitStruct = {0};
  RCC_ClkInitTypeDef RCC_ClkInitStruct = {0};

  RCC_OscInitStruct.OscillatorType = RCC_OSCILLATORTYPE_HSE;
  RCC_OscInitStruct.HSEState = RCC_HSE_ON;
  RCC_OscInitStruct.HSEPredivValue = RCC_HSE_PREDIV_DIV1;
  RCC_OscInitStruct.PLL.PLLState = RCC_PLL_ON;
  RCC_OscInitStruct.PLL.PLLSource = RCC_PLLSOURCE_HSE;
  RCC_OscInitStruct.PLL.PLLMUL = RCC_PLL_MUL9;
  if (HAL_RCC_OscConfig(&RCC_OscInitStruct) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }

  RCC_ClkInitStruct.ClockType = RCC_CLOCKTYPE_HCLK|RCC_CLOCKTYPE_SYSCLK
                              |RCC_CLOCKTYPE_PCLK1|RCC_CLOCKTYPE_PCLK2;
  RCC_ClkInitStruct.SYSCLKSource = RCC_SYSCLKSOURCE_PLLCLK;
  RCC_ClkInitStruct.AHBCLKDivider = RCC_SYSCLK_DIV1;
  RCC_ClkInitStruct.APB1CLKDivider = RCC_HCLK_DIV2;
  RCC_ClkInitStruct.APB2CLKDivider = RCC_HCLK_DIV1;
  if (HAL_RCC_ClockConfig(&RCC_ClkInitStruct, FLASH_LATENCY_2) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }
}

static void MX_ADC1_Init(void)
{
  ADC_ChannelConfTypeDef sConfig = {0};

  __HAL_RCC_ADC1_CLK_ENABLE();

  hadc.Instance = ADC1;
  hadc.Init.ScanConvMode = DISABLE;
  hadc.Init.ContinuousConvMode = DISABLE;
  hadc.Init.DiscontinuousConvMode = DISABLE;
  hadc.Init.ExternalTrigConv = ADC_SOFTWARE_START;
  hadc.Init.DataAlign = ADC_DATAALIGN_RIGHT;
  hadc.Init.NbrOfConversion = 1;
  if (HAL_ADC_Init(&hadc) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }

  sConfig.Channel = ADC_CHANNEL_0;
  sConfig.Rank = ADC_REGULAR_RANK_1;
  sConfig.SamplingTime = ADC_SAMPLETIME_239CYCLES_5;
  if (HAL_ADC_ConfigChannel(&hadc, &sConfig) != HAL_OK)
  {
    Error_Handler();
  }
}

static void MX_GPIO_Init(void)
{
  __HAL_RCC_GPIOC_CLK_ENABLE();
  GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStruct = {0};

  GPIO_InitStruct.Pin = GPIO_PIN_0;
  GPIO_InitStruct.Mode = GPIO_MODE_ANALOG;
  GPIO_InitStruct.Pull = GPIO_NOPULL;
  HAL_GPIO_Init(GPIOC, &GPIO_InitStruct);
}

在这个例子中，我们初始化了ADC模块并将其配置为单次转换模式。在while循环中，我们启动ADC转换并获取ADC值。然后将ADC值转换为电压值，最后将电压值转换为光照强度值。每隔1秒钟打印一次光照强度值。

注意：此代码仅供参考，实际使用时需要根据实际情况进行修改和优化。