STM32 ADC 多重采样

STM32微控制器中的ADC（Analog-to-Digital Converter，模拟数字转换器）支持多重采样功能，也称为“逐次逼近”（Successive Approximation Register, SAR）模式。这种模式允许ADC在一个序列中逐步逼近输入信号的精确值，通过比较不同比例的参考电压来获得更高的精度。

多重采样的步骤如下：
1. 首先，ADC选择一个粗略的比例电压作为初始猜测值。
2. 然后，它会将这个电压与输入信号进行比较，如果输入信号较大，则更新为更高比例的电压；如果输入信号较小，则更新为更低比例的电压。
3. 这个过程会反复进行直到达到预定的采样次数或达到预设的分辨率，通常这个过程可以在内部完成而无需CPU干预。
4. 最终，ADC会产生一个逼近结果，这就是经过多重采样的数字输出。

多重采样可以提高ADC的分辨率，尤其是在需要高精度测量的应用中，比如工业控制、精密仪器等。然而，这也意味着转换时间会增加，并消耗更多的系统资源。