全芯片的logic BIST 代码怎么写

编写一个完整芯片的逻辑BIST（Built-In Self Test）代码是一个复杂的任务，涉及到整个芯片的设计和测试策略。以下是一个简单的示例，展示了逻辑BIST的基本框架和流程：

module ChipLogicBIST (
  input wire clk,
  input wire reset,
  output wire bist_pass
);

  // 定义芯片内部信号和寄存器

  // 定义测试模式生成器（TPG）的宽度
  parameter TPG_WIDTH = 32;

  // 定义测试模式检测器（TPD）的宽度
  parameter TPD_WIDTH = 32;

  // 定义TPG和TPD的输入输出端口

  // 定义BIST控制状态机的状态
  typedef enum logic [2:0] {
    IDLE,
    INIT,
    RUN,
    COMPARE,
    DONE
  } bist_state_t;

  // 定义BIST控制状态机的寄存器和信号
  reg [2:0] bist_state;
  reg [TPG_WIDTH-1:0] tpg_out;
  wire [TPD_WIDTH-1:0] tpd_in;

  // 定义BIST控制状态机的转换逻辑
  always @(posedge clk) begin
    if (reset) begin
      bist_state <= IDLE;
      // 其他寄存器和信号的复位操作
    end else begin
      case (bist_state)
        IDLE:
          if (start_test) begin
            bist_state <= INIT;
            // 初始化BIST测试的其他操作
          end
        INIT:
          if (init_complete) begin
            bist_state <= RUN;
            // 进入BIST测试运行状态的其他操作
          end
        RUN:
          if (run_complete) begin
            bist_state <= COMPARE;
            // 进入BIST测试比较状态的其他操作
          end
        COMPARE:
          if (compare_complete) begin
            bist_state <= DONE;
            // 进入BIST测试完成状态的其他操作
          end
        DONE:
          bist_state <= IDLE;
          // 返回到IDLE状态的其他操作
      endcase
    end
  end

  // 定义测试模式生成器的逻辑

  // 定义测试模式检测器的逻辑

  // 定义BIST控制状态机的操作逻辑

  // 定义BIST通过检测逻辑
  assign bist_pass = (bist_state == DONE);

endmodule

以上代码是一个简单的芯片逻辑BIST设计的框架。你需要根据具体芯片的设计和测试需求，来实现测试模式生成器、测试模式检测器、BIST控制状态机的操作逻辑等。这个示例代码只提供了一个基本的框架，实际的芯片逻辑BIST设计可能需要更复杂的逻辑和算法来实现全面的测试。