16位定点DSP芯片的高效BIST设计与实现

“定点DSP芯片的一种BIST结构设计与实现 (2006年)” 本文主要探讨了一种针对16位定点数字信号处理（DSP）芯片的内置自测试（BIST）结构的设计与实现方法。BIST技术是一种提高集成电路测试效率和质量的策略，它允许芯片在制造和使用过程中自我检测其功能是否正常，从而减少了外部测试设备的需求。 在本文中，作者提出了一种适用于16位定点DSP的BIST设计方案，该方案涵盖了内部逻辑的BIST设计以及内存（Memory）的BIST设计。内部逻辑的BIST设计主要是为了测试芯片中的各种运算单元、控制逻辑以及接口电路等，确保它们在运行时能够正确执行指令和数据处理。而Memory的BIST设计则关注存储器单元的可靠性，包括数据存储器和程序存储器，确保存储的数据和指令无误。 为了实现BIST控制，作者采用了与IEEE 1149.1标准兼容的边界扫描技术。IEEE 1149.1，也称为JTAG（Joint Test Action Group）标准，提供了一种通用的接口，可以用于测试芯片内部的各个部分以及电路板级的测试。通过边界扫描，可以在不改变芯片正常工作模式的情况下进行测试，提高了测试的灵活性和覆盖率。 测试结果显示，这种BIST结构设计的故障覆盖率达到了98%以上，这意味着在芯片的整个生命周期中，绝大部分可能存在的故障都能被检测出来，极大地提升了DSP芯片的品质和可靠性。高故障覆盖率对于保证芯片在实际应用中的稳定性和性能至关重要，尤其是在要求高精度和实时性的领域，如通信、音频处理、图像处理等。 此外，文中还提到了关键词“数字信号处理芯片”、“内建自测试”、“可测性设计”和“故障覆盖”。这些关键词强调了研究的重点是针对数字信号处理的特定需求，通过BIST增强芯片的可测性，以及通过有效的设计方法提高故障检测能力。 这篇论文详细介绍了如何在定点DSP芯片中实施BIST技术，包括设计思路、具体实现方式以及测试结果分析，为相关领域的工程师提供了有价值的参考，有助于推动DSP芯片设计和测试技术的发展。