数模混合电路中DAC的BIST测试结构与静态参数计算

“一种实现数模混合电路中的DAC测试的BIST结构 (2006年)” 随着超大规模集成电路（VLSI）技术的快速发展，数模混合电路的测试面临着越来越多的挑战。在这样的背景下，文章提出了一种用于测试数模转换器（DAC）的内建自测试（BIST）结构，以解决测试复杂性和精度的问题。这种BIST结构利用模拟加法器将电压测量转化为时间测量，从而优化了DAC的静态参数计算。 文章的主要内容包括： 1. **BIST结构介绍**：BIST是一种内置的测试方案，它允许集成电路在制造或使用过程中自我测试，减少了对外部测试设备的依赖。对于数模混合电路，特别是DAC，BIST结构尤其重要，因为它可以集成到电路内部，提供高效且准确的测试。 2. **电压到时间转换**：文中提出的测试方法利用模拟加法器进行电压到时间的转换。这种转换是通过比较DAC输出的电压与参考电压，然后根据两者之间的差异来调整一个计时器的延迟时间。这种时间延迟与电压差成比例，从而实现了电压测量的间接评估。 3. **静态参数计算**：作者讨论了如何利用这个BIST结构来计算DAC的静态参数，如增益、失调电压、线性误差等。这些参数是评估DAC性能的关键指标。通过时间测量，可以更精确地获取这些参数，而且计算过程更快。 4. **测试精度提升**：由于BIST结构可以直接在芯片内部执行测试，因此可以避免外部环境对测试结果的影响，从而提高测试精度。此外，这种方法简化了测试电路，使其更加紧凑和高效。 5. **关键词**：文章的关键词包括数字模拟转换器（DAC）、内建自测试（BIST）和混合信号电路，表明了研究的核心领域和应用背景。 6. **应用背景**：该研究对于电子设备制造商和集成电路设计师具有实际意义，因为它们需要确保产品的质量和可靠性，尤其是在涉及模拟和数字信号处理的复杂系统中。 这篇文章提供了在数模混合电路中实现高效、精确和紧凑的DAC测试的新方法，通过BIST结构和电压到时间的转换策略，有助于优化测试流程，提高测试质量，并降低了测试成本。这一成果对于推动集成电路行业的技术进步和测试技术的发展具有重要意义。