ieee1149.6

IEEE 1149.6是一种称为Octal Bus Extension (OBE)的电子测试与设备识别标准。它是由IEEE（Institute of Electrical and Electronics Engineers）制定的，旨在为新一代高速数字IC（Integrated Circuits）提供更强大和灵活的测试与诊断功能。

IEEE 1149.6于2003年首次发布，作为JTAG（Joint Test Action Group）标准的扩展，它定义了一种新的测试架构，能够有效地应对高速传输和复杂性方面的挑战。相比于传统的JTAG测试，IEEE 1149.6更适用于现代集成电路设计中的差分信号和高速总线。

IEEE 1149.6的主要特点之一是引入了新的测试信号和测试节点。它使用了差分信号传输、均衡和预驱动技术，以提高测试信号的准确性和可靠性。此外，IEEE 1149.6还引入了新的控制寄存器和延迟对齐机制，以优化测试流程和信号完整性。

IEEE 1149.6还具有灵活性和可扩展性。它支持多波束和多级级联测试架构，可以根据不同的测试需求进行配置。这样的设计使得IEEE 1149.6能够适应各种不同的集成电路设计，并提供高效的测试解决方案。

总的来说，IEEE 1149.6是一项为新一代高速数字IC测试设计的标准。它引入了新的测试信号和节点，以提高测试的准确性和可靠性。同时，它还具备灵活性和可扩展性，能够适应各种不同的集成电路设计需求。通过采用IEEE 1149.6，可以更好地测试和诊断现代高速数字IC。

相关问题

ieee 1149.6 jtag用什么调试器

IEEE 1149.6 JTAG（JTAG Extended Feature）是一种用于芯片级调试和测试的标准。与传统的JTAG（IEEE 1149.1）相比，IEEE 1149.6 JTAG支持具有多个供电域和片上通信接口（IO）的芯片。由于其特殊的架构，必须使用支持IEEE 1149.6 JTAG的专用调试器进行调试。

这些调试器通常由芯片制造商提供，以确保在调试过程中能够正确地读取和更新芯片的状态。这些调试器可与IEEE 1149.6 JTAG标准兼容，能够实现高效的调试和测试功能。

使用IEEE 1149.6 JTAG调试器，工程师可以访问芯片内部的寄存器和状态，设置断点和监视点，以及进行芯片级调试和测试。通过调试器，工程师可以在难以触及的内部节点上插入触发器信号，并观察或录制芯片内部信号的变化。

总而言之，为了正确使用IEEE 1149.6 JTAG进行调试和测试，需要使用与该标准兼容的专用调试器。这些调试器由芯片制造商提供，并具有与IEEE 1149.6 JTAG接口相对应的功能。通过使用这些调试器，能够轻松地实现对具有多个供电域和IO接口的芯片进行高效的调试和测试。

ieee1149.1 pdf

IEEE 1149.1是一项在集成电路领域中使用的国际标准。这个标准也被称为JTAG（联合测试行动组）或Boundary-Scan。IEEE 1149.1定义了一种用于测试和诊断集成电路的方法。

IEEE 1149.1标准针对集成电路中的引脚提供了一种标准化的测试接口。通过这个接口，测试者可以访问和控制集成电路内部的逻辑功能，并通过检查引脚之间的连通性，来检测电路中的故障。这种测试接口使用了几个特定的命令和指令，以及一系列状态机来实现。

IEEE 1149.1标准的主要优点是它提供了一种非侵入性的测试方法。这意味着在测试期间不需要对集成电路进行物理修改或添加额外的测试电路。测试者只需要通过标准测试接口与电路进行通信即可。

除了测试功能，IEEE 1149.1标准还定义了一种诊断方法。通过这种方法，可以识别引脚和内部电路之间的故障，并定位问题的具体位置。

IEEE 1149.1标准已经成为集成电路设计和制造领域的一种重要工具。它不仅可以在生产过程中使用，还可以用于故障诊断和维修。

总之，IEEE 1149.1标准是一种用于测试和诊断集成电路的国际标准。它通过提供一个标准化的测试接口，使得测试和诊断过程更加方便和高效。这个标准的使用已经广泛应用于集成电路设计和制造，成为行业的重要工具之一。