JTAG tap controller的4种状态TL、RTI、SEL_DR、SEL_IR分别是什么

JTAG（Joint Test Action Group）是一种常见的调试和测试接口标准，其中的 JTAG tap controller 可以处于以下四种状态：

1. Test-Logic (TL) 状态：在该状态下，JTAG tap controller 可以通过 Test Data Input (TDI) 和 Test Data Output (TDO) 线进行逻辑测试操作。它用于向目标设备提供测试模式和测试数据，以检查目标设备的逻辑功能。

2. Run-Test/Idle (RTI) 状态：在该状态下，JTAG tap controller 处于空闲状态。它不进行任何测试或调试操作，只等待接收新的指令。

3. Select-DR (SEL_DR) 状态：在该状态下，JTAG tap controller 可以通过 TDI 和 TDO 线与目标设备的数据寄存器（Data Register）进行交互。它用于读取或写入目标设备的数据寄存器。

4. Select-IR (SEL_IR) 状态：在该状态下，JTAG tap controller 可以通过 TDI 和 TDO 线与目标设备的指令寄存器（Instruction Register）进行交互。它用于读取或写入目标设备的指令寄存器。

通过在这四种状态之间切换，JTAG tap controller 可以实现对目标设备的测试、调试和编程操作。这些状态之间的切换是通过 Test Clock (TCK) 信号控制的。

请注意，这些状态是 JTAG tap controller 的标准状态，不同的设备和实现可能会有一些变化或扩展。具体的细节和操作可能会因设备而异。