built in test
时间: 2024-02-02 15:02:40 浏览: 80
引用:LBIST(Logic Built-In Self Test)是针对逻辑电路的自测试。测试激励由片上 PRPG(Pseudo-random pattern generation)来产生,输出响应通过 MISR(Multiple Input Signature Register)来压缩,最后对得到的特征值进行比对。LBIST 多应用于对可靠性要求较高的芯片(如汽车电子,工业级应用)的系统自检测试。LBIST产生的激励是随机的,所以天生的缺陷是测试覆盖率不充分,通过在设计中增加测试点(Test Point Insertion)可以在一定程度上得到改善。
引用:Boundary scan是附加在芯片I/O周边的扫描测试链,通过专门的测试端口(TAP)访问。在测试模式下,边界扫描链会接管功能逻辑,对I/O进行灵活访问。边界扫描链的结构,测试端口,以及其控制器(TAP Controller),被IEEE定为标准协议(IEEE 1149),也称做JTAG。边界扫描链最早应用于印刷电路板上芯片间的互联测试,后来也广泛应用于生产测试中对芯片管脚的测试。
引用:Memory BIST是测试存储器电路的方法,通过输入不同组数值测试SRAM存储器是否有坏点,需要将自检的硬件逻辑加到RTL中。
在以上引用中,"built in test"是指LBIST和Boundary scan这两种自测试方法。LBIST是通过在芯片上加入自测试电路、产生随机激励并通过压缩特征值进行比对来进行测试。Boundary scan则是通过在芯片I/O周边添加扫描测试链,以实现对芯片管脚的测试。这两种方法都是在芯片设计时内置的测试功能,用于系统自检测试和芯片管脚测试。
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