Design for test中的typical test

Design for test (DFT)中的典型测试包括以下几种：

1. Boundary scan testing: 边界扫描测试是一种重要的DFT技术，它可以通过扫描链（Scan Chain）实现对芯片内部信号的访问和控制，从而进行测试、调试和编程。

2. Built-in self-test (BIST): 内置自测试是一种在芯片内部嵌入的自测试电路，可以对芯片进行自动化的故障检测和诊断，提高测试效率和可靠性。

3. Memory built-in self-test (MBIST): 内置自测试电路也可以用于内存测试，称为内存内置自测试。MBIST可以在芯片内部生成一系列测试模式，对内存进行快速、准确的测试和故障诊断。

4. Scan testing: 扫描测试是一种基于扫描链的测试方法，它可以在芯片内部生成一系列测试模式，对芯片进行快速、全面的测试和故障诊断。

5. Functional testing: 功能测试是一种基于芯片功能的测试方法，可以测试芯片的各项功能和性能指标，包括输入/输出、计算、存储等。

6. Power and ground testing: 电源和地测试是一种对芯片的电源和地电路进行测试的方法，可以检测电源和地电路的质量和可靠性，避免电源和地电路故障对芯片性能的影响。

以上是DFT中的典型测试方法，不同的测试方法可以相互补充，提高芯片测试的效率和可靠性。