ieee 1149.6 jtag用什么调试器

IEEE 1149.6 JTAG（JTAG Extended Feature）是一种用于芯片级调试和测试的标准。与传统的JTAG（IEEE 1149.1）相比，IEEE 1149.6 JTAG支持具有多个供电域和片上通信接口（IO）的芯片。由于其特殊的架构，必须使用支持IEEE 1149.6 JTAG的专用调试器进行调试。

这些调试器通常由芯片制造商提供，以确保在调试过程中能够正确地读取和更新芯片的状态。这些调试器可与IEEE 1149.6 JTAG标准兼容，能够实现高效的调试和测试功能。

使用IEEE 1149.6 JTAG调试器，工程师可以访问芯片内部的寄存器和状态，设置断点和监视点，以及进行芯片级调试和测试。通过调试器，工程师可以在难以触及的内部节点上插入触发器信号，并观察或录制芯片内部信号的变化。

总而言之，为了正确使用IEEE 1149.6 JTAG进行调试和测试，需要使用与该标准兼容的专用调试器。这些调试器由芯片制造商提供，并具有与IEEE 1149.6 JTAG接口相对应的功能。通过使用这些调试器，能够轻松地实现对具有多个供电域和IO接口的芯片进行高效的调试和测试。

相关问题

在设计基于EPP模式的TI DSP仿真器时，如何实现通过IEEE1149.1标准对ACT8990芯片进行边界扫描以进行数据读写？

在设计基于EPP模式的TI DSP仿真器时，实现IEEE1149.1标准对ACT8990芯片的边界扫描操作是确保DSP芯片调试过程中的数据准确性和高效性的关键步骤。IEEE 1149.1标准是一种国际标准的测试访问端口和边界扫描结构（JTAG），广泛用于数字电路的测试和调试。为了通过此标准实现对ACT8990芯片的边界扫描操作，你需要遵循以下步骤：

参考资源链接：[基于EPP模式的TI DSP仿真器设计：IEEE1149.1协议与ACT8990应用](https://wenku.csdn.net/doc/46gbogqhf9?spm=1055.2569.3001.10343)

1. 理解IEEE 1149.1标准的结构，包括测试访问端口（TAP）、指令寄存器、数据寄存器、TMS（测试模式选择）、TCK（测试时钟）、TDI（测试数据输入）和TDO（测试数据输出）。

2. 确保ACT8990芯片已正确集成到DSP系统中，并且已经配置了相应的边界扫描链路。

3. 使用适当的测试设备，如逻辑分析仪或专门的边界扫描控制器，连接到EPP接口。

4. 开发或使用现有的边界扫描软件来控制测试设备，这通常涉及到发送一系列的TMS信号以引导TAP控制器进入不同的状态，并通过TDI发送相应的指令和数据。

5. 实现数据读写操作时，首先通过TDI将读写指令加载到指令寄存器，然后通过TDI发送或接收数据到数据寄存器。在写操作中，数据寄存器将被加载到芯片内部的相应位置；在读操作中，内部数据将被捕获到数据寄存器中，并通过TDO输出。

6. 在CCS开发环境中，配置并口控制模块SMC34C60，使其能够通过并行接口与外部测试设备通信，从而实现对DSP芯片的实时监控和控制。

7. 测试和验证整个边界扫描系统是否能够正确地读取和写入数据到ACT8990芯片，并确保调试过程中的信号完整性和速度满足要求。

通过以上步骤，你可以有效地在基于EPP模式的TI DSP仿真器中实现对ACT8990芯片的边界扫描操作。更多细节和深入的技术信息，可以参考《基于EPP模式的TI DSP仿真器设计：IEEE1149.1协议与ACT8990应用》，这本书详细介绍了整个设计过程以及相关的技术细节。

参考资源链接：[基于EPP模式的TI DSP仿真器设计：IEEE1149.1协议与ACT8990应用](https://wenku.csdn.net/doc/46gbogqhf9?spm=1055.2569.3001.10343)