在进行ARM微处理器调试时，如何利用JTAG的TAP控制器进行故障检测和程序调试？请结合ARM7TDMI处理器的实例说明。

JTAG调试是一种利用IEEE 1149.1标准接口对ARM微处理器进行故障检测和程序调试的方法。在这个过程中，TAP控制器扮演着至关重要的角色。为了理解如何通过TAP控制器来进行故障检测和程序调试，我们可以通过学习《理解ARM JTAG调试原理：从TAP到边界扫描》这篇文档来深入掌握相关知识。

参考资源链接：[理解ARM JTAG调试原理：从TAP到边界扫描](https://wenku.csdn.net/doc/6412b648be7fbd1778d462b8?spm=1055.2569.3001.10343)

首先，了解TAP控制器的基本结构。TAP控制器由一系列状态机组成，包括测试逻辑复位（Test-Logic-Reset）状态、运行测试/空闲（Run-Test/Idle）状态、选择DR扫描（Select-DR-Scan）状态、选择IR扫描（Select-IR-Scan）状态、捕获DR（Capture-DR）状态、移位DR（Shift-DR）状态、更新DR（Update-DR）状态、捕获IR（Capture-IR）状态、移位IR（Shift-IR）状态和更新IR（Update-IR）状态。
在ARM7TDMI处理器的调试过程中，你可以通过连接JTAG接口来访问TAP控制器。使用调试工具（如OPEN-JTAG）发送特定的指令到TAP控制器，将处理器置于调试模式。通过设置断点、单步执行指令、查看内存和寄存器状态等操作，可以逐步分析程序的运行情况和寻找可能的故障点。
具体来说，你可以通过移位IR状态来加载新的指令，比如EXTEST用于边界扫描，而DEBUG_INSTRUCTION用于进入调试模式。在捕获DR状态时，可以捕获测试数据寄存器的内容，而移位DR状态允许你通过数据链路移动数据，从而读取或写入特定的寄存器和内存位置。
在整个调试过程中，TAP控制器通过其状态机的转换和指令寄存器的加载，实现了对处理器内部状态的精细控制和观察。通过这种方式，开发者可以对ARM7TDMI处理器进行深入的调试和故障排除。
如果你希望深入了解如何在实际操作中应用这些概念，或者想扩展学习到更多关于芯片测试和输入输出控制的内容，那么《理解ARM JTAG调试原理：从TAP到边界扫描》将是一个非常适合的资源。

参考资源链接：[理解ARM JTAG调试原理：从TAP到边界扫描](https://wenku.csdn.net/doc/6412b648be7fbd1778d462b8?spm=1055.2569.3001.10343)