open short

Open-Short测试是芯片测试中的一种方法，用于确认芯片的信号引脚是否存在开路或短路现象。只有既不是开路又不是短路，并且阻值符合设计要求的芯片才被认为是良品芯片。这项测试能够快速检测出芯片是否存在电性物理缺陷，如引脚短路、bondwire缺失、引脚的静电损坏和制造缺陷等。对于大多数器件而言，Open-Short测试方法和参数是标准的，并且它是一种串行静态的DC测试。首先，将器件包括电源和地的所有管脚拉低至“地”，然后连接PMU到单个的DUT管脚，并驱动电流顺着偏置方向经过管脚的保护二极管。通过检测连接点的电压，可以得知测试结果。Open-Short测试的优点是准确测量失效引起的电压，并将其真实记录和显示出来。然而，需要测试系统对每个管脚都有相应的独立的DC测试单元。对于拥有PPPMU结构的测试系统来说，这个缺点就不存在了。Open-Short测试也可以使用功能测试来进行。<span class="em">1</span><span class="em">2</span><span class="em">3</span>
#### 引用[.reference_title]
- *1* *3* [半导体测试---测试基础原理之OS](https://blog.csdn.net/ssy1582373593/article/details/123788202)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_2"}}] [.reference_item style="max-width: 50%"]
- *2* [Open-Short Test](https://blog.csdn.net/yunxianpiaoyu/article/details/9091697)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v93^chatsearchT3_2"}}] [.reference_item style="max-width: 50%"]
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