ieee std 1687-2014 - standard for access and control of instrumentation embe

### 回答1：
IEEE Std 1687-2014是一项关于仪器嵌入控制和访问的标准。该标准提供了一种控制和访问电子系统内部仪器的方法和约束条件。

IEEE Std 1687-2014的主要目的是为了解决不同厂家生产的芯片或电子系统内部仪器访问的一致性问题。在芯片设计中，不同的仪器可能位于不同的功能模块内，由不同的供应商提供，因此仪器访问的一致性成为一个重要问题。

该标准提供了一种通用的仪器访问方法，其中使用了一种称为Internal JTAG（IJTAG）的集成电路测试访问标准。这种访问方法利用了IEEE 1149.1 JTAG（Joint Test Action Group）标准，允许通过单一的接口操控和访问芯片内部的各种仪器。

IEEE Std 1687-2014标准定义了一种称为“CoreWrapper”的数据结构，用于描述和管理芯片内部的仪器和其访问方式。CoreWrapper为每个仪器提供了一个独立的控制和访问接口，并允许在芯片设计中进行配置和组合。

通过采用IEEE Std 1687-2014标准，芯片设计师和测试工程师能够在设计和验证过程中更加灵活地控制和访问芯片内部的仪器。这种一致的仪器访问方法可以提高芯片的测试效率和可移植性，同时减少设计和测试成本。

总之，IEEE Std 1687-2014标准是一项关于仪器嵌入控制和访问的标准，通过定义一种统一的仪器访问方法，解决了芯片设计中不同仪器访问的一致性问题，提高了设计和测试的效率和可移植性。

### 回答2：
IEEE Std 1687-2014是一项关于仪器嵌入式访问和控制的标准。该标准的目的是为了提高测试和调试的效率，并且减少复杂系统中的测试点。该标准的实施依赖于一种称为Portability Interface (PI)的机制，它定义了一种可重用的嵌入式测试方法。

IEEE Std 1687-2014标准的核心是一种可编程仪器（Programmable Instrumentation），它可以通过嵌入式访问接口与系统中的各种设备进行通信。这些设备可以是处理器、存储器、I/O接口等，它们可以被测试和操纵。通过使用可编程仪器，测试和调试人员可以在系统运行时对各个部件进行灵活的控制。

与传统的测试方法相比，IEEE Std 1687-2014标准具有更高的效率和可扩展性。首先，该标准允许测试人员在运行中的系统中动态地提供和收集测试数据，而不需要停机。其次，该标准的可编程性使得测试人员可以根据测试需求自由地创建和使用各种测试模式和算法。此外，该标准还定义了一种通用的语言和接口，使得不同供应商的仪器可以互操作。

IEEE Std 1687-2014标准目前已经在许多领域得到了广泛应用，包括芯片设计、系统集成、嵌入式系统开发等。通过使用该标准，测试和调试的效率得到了大幅提升，同时也降低了测试成本和风险。这使得许多公司和组织将该标准作为其测试和调试流程的一部分，并正在加大对其应用和推广的力度。

总而言之，IEEE Std 1687-2014标准为测试和调试领域带来了许多创新和改进。通过使用可编程仪器和统一的访问接口，测试人员可以更加高效地进行测试和调试工作，提高产品质量和减少开发时间。该标准的应用和推广有望在未来得到进一步的扩大。