dft transition

DFT transition是指针对测试目的而进行的设计布局过程中的转换。在这个过程中，使用了at-speed ATPG方法，通过使用SDF时序信息来激活和传播故障。与传统故障ATPG相似，每个library IO位置都存在slow-to-fall和slow-to-rise故障。ATPG过程使用SDF，所以目标故障在具有最大可能延迟的路径之间进行launch和capture。这样的设计布局转换可以更有效地检测到小的延迟缺陷，并增加测试的覆盖率和准确性。 为了实现这种转换，可以使用DFT的部分连接到top-level TAP的网络，例如，连接到instruments上。其中一个用于转换的组件是SIB（Scan Input Bridge），它是一个扫描链开关，具有两个扫描输入引脚和一个扫描输出引脚。 此外，在DFT设计中还可以插入Pipeline stages，这些Pipeline stages位于EDT逻辑之外，它们可以增加信号的传播时间，以提高信号的稳定性和可靠性。<span class="em">1</span><span class="em">2</span><span class="em">3</span>
#### 引用[.reference_title]
- *1* *2* *3* [DFT设计中相关词汇](https://blog.csdn.net/weixin_44954910/article/details/131432846)[target="_blank" data-report-click={"spm":"1018.2226.3001.9630","extra":{"utm_source":"vip_chatgpt_common_search_pc_result","utm_medium":"distribute.pc_search_result.none-task-cask-2~all~insert_cask~default-1-null.142^v92^chatsearchT3_1"}}] [.reference_item style="max-width: 100%"]
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