主要DFT技术和覆盖范围

DFT（Design for Testability）是一种设计方法，旨在增加集成电路的可测试性。它包括一系列技术和方法，用于在设计阶段就考虑到测试需求，以提高测试效率和测试覆盖率。

主要的DFT技术包括：

1. 扫描链（Scan Chains）：将设计中的触发器串联成一个长链，可以通过扫描输入和输出来进行测试。这种技术能够提高测试覆盖率，但会增加硬件开销。

2. Boundary Scan（边界扫描）：在芯片的边界添加一组专用的测试逻辑，可以通过这些逻辑进行测试和调试。边界扫描技术可以测试芯片的输入输出端口，以及与外部设备的通信接口。

3. 内部测试点（Internal Test Points）：在设计中添加一些特殊的电路节点，用于监测和调试。这些节点可以用于检测故障和性能问题，并且可以通过它们来测试其他电路。

4. 过渡故障测试（Transition Fault Testing）：该技术用于检测由信号过渡引起的故障。它通过对信号过渡进行监测和分析，以确定是否存在故障。

DFT技术的覆盖范围包括以下方面：

1. 逻辑覆盖：确保测试向量能够覆盖设计中的所有逻辑路径，以发现潜在的故障。

2. 结构覆盖：检测和测量设计中的硬件资源，如触发器、查找表、多路选择器等，以验证其正确性和可靠性。

3. 功能覆盖：通过测试向量检测和验证设计中的功能单元，如算术逻辑单元、存储单元等。

4. 时序覆盖：确保测试向量能够覆盖设计中的所有时序路径，以测试和验证时序相关的功能和故障。

总而言之，DFT技术的目标是通过增加测试硬件和设计特性，提高测试覆盖率，确保集成电路在制造和运行过程中的可靠性和稳定性。