在使用Tessent DFT进行IC设计时，如何通过层次化设计和模式重定向提高测试覆盖率和效率？

在面对复杂的系统级芯片设计时，Tessent DFT提供了层次化设计的指导原则和模式重定向的高级功能，以帮助提高测试的覆盖率和效率。具体来说：

参考资源链接：[Tessent DFT学习：功能与应用详解](https://wenku.csdn.net/doc/794yumwmp1?spm=1055.2569.3001.10343)

首先，层次化设计允许设计师将复杂的芯片分解为更小、更易管理的模块或核心。通过遵循Tessent DFT的架构指南，这些模块可以被独立地测试和验证。在设计过程中，可以将逻辑测试硬件结构如扫描链、内建自测试（BIST）等嵌入到这些模块中。这样做的好处是可以早期发现设计错误，优化测试脚本，从而在设计验证阶段快速定位和修复问题。

其次，模式重定向是将核心级别的ATPG向量在芯片级别进行复用的过程。这一点对于包含多个重复核心的复杂芯片特别有用，如多核CPU和GPU。通过这种方式，可以大幅度减少测试资源的开销，并提升整体的测试效率。例如，在多核处理器的设计中，可以生成一个核心的测试向量，然后将其重定向到其他相同的核心，以减少重复测试的成本和时间。

此外，为了确保核心之间的连接路径和芯片内部的时钟信号能够得到正确测试，需要在层次化设计中合理配置系统模式和环境设置。例如，通过设置合适的Context和System Mode，可以控制测试的范围和复杂度。同时，内部模式和外部模式的使用可以确保故障检测的全面性，其中内部模式关注核心内部故障，而外部模式关注核心间的连接路径。

最后，OCC（On-Chip Clock Controller）的使用是关键的一环，它在chip level的测试中监控和控制时钟信号的正确性，确保即使在模式重定向的情况下，也能够维护芯片的时序完整性。

综上所述，通过Tessent DFT的层次化设计和模式重定向，设计师可以有效地提升测试覆盖率和效率，为最终产品提供更高的质量和可靠性。如果需要更深入地了解这些概念及其应用，建议阅读《Tessent DFT学习：功能与应用详解》。该资料详细阐述了Tessent DFT的关键功能和核心概念，是掌握层次化设计和模式重定向不可多得的学习资源。

参考资源链接：[Tessent DFT学习：功能与应用详解](https://wenku.csdn.net/doc/794yumwmp1?spm=1055.2569.3001.10343)