既然DFT难以发现时序故障，ATE中做的时序测试从哪里来的？

DFT在发现和定位时序故障方面可能存在一些限制，但是ATE中进行的时序测试是通过一系列专门设计的测试模式来实现的。这些测试模式通常由测试工程师根据设计规范和时序要求自行开发。

在进行时序测试之前，测试工程师会仔细分析芯片设计的时序要求，并根据设计规范编写相应的测试模式。这些测试模式会涉及不同的时钟频率、时钟相位等参数，以模拟不同工作条件下的时序要求。

测试模式的生成可以通过不同的方法实现，例如使用专门的自动测试模式生成工具（ATPG），或者根据设计规范手动编写模式。这些模式会被加载到ATE中，用于对芯片进行时序测试。

在ATE中，时序测试需要设置合适的测试时钟和时钟边沿，以模拟不同的时钟条件下的操作。通过捕获芯片输出的信号，并进行时序分析，ATE可以判断芯片是否满足设计规范中的时序要求。

需要注意的是，时序测试是一项复杂而耗时的任务，需要测试工程师具备对时序测试的理解和熟练运用。他们需要根据设计要求和实际情况，选择合适的测试模式和时钟设置，以确保测试的准确性和可靠性。

综上所述，ATE中的时序测试是通过专门设计的测试模式来实现的，这些模式由测试工程师根据设计规范和时序要求开发，并在ATE中进行加载和执行。